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岛津X射线衍射仪XRD-7000 晶体结构分析专用仪器
点击次数:1181发布时间:2014/11/14 8:40:00
更新日期:2019/5/14 11:02:43
所 在 地:其它
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详细内容
岛津XRD-7000配备具有0.0001°*小步进的高精度样品水平型测角仪。根据分析目的,可以选择适合分析大型样品的L型(350mmφ样品)和通用的S型。
岛津XRD-7000系列配备了样品水平型测角仪,能够测定超大型样品。
不但可进行定性/定量等基本分析,还可以应用于残留奥氏体定量、环境定量、晶格常数的精密化、结晶度的计算、晶体粒径和晶格应力的计算、晶系确定、Rietveid结构解析软件进行的晶体结构解析。通过追加附件,还可以应用于应力测定、样品加热过程的分析、薄膜样品测定等。
利用新开发的大型R-θ样品台,可以进行350mmφ样品全表面的自动应力成图测定。 |
使用多毛细管平行光束系统的测定实例