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萤光X-Ray膜厚仪

点击次数:1218发布时间:2009/11/2 0:00:00

萤光X-Ray膜厚仪

更新日期:2012/3/8 16:46:51

所 在 地:日本

产品型号:

简单介绍:萤光X-Ray膜厚仪

优质供应

详细内容

荧光X-Ray膜厚仪

萤光X-Ray膜厚仪说明:
1. 测量主机精巧,不占空间
2. 厚度测量极限:0.001um
3. 可测试单层膜厚、多层膜厚、化学镍层膜厚、锡铅合金层膜厚及组成比、元素分析
4. 准直器*小孔径仅0.05φmm,可测量微小部品
5. 采用中文窗口软件,测定报告的撷取,非常简便

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企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【未认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:
  • 企业类型:经销商
  • 注册资金:人民币万

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