西安PCT老化试验箱

1.西安PCT高压老化试验箱采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度。

4.西安PCT高压老化试验箱圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品.

5.西安PCT高压老化试验箱精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续200h。

7.内压力愈大时,KENSEEN,箱门会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长PCT寿命。

8.3.重庆PCT高压老化试验箱圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可防止试验中结露滴水设计。

9.安全阀，当锅内压力超过工作值自动排气泄压。

6.自动门禁,圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制,安全门把设计,箱内有大于常压时测试门会被反压保护。

2.西安PCT高压老化试验箱采用指针显示正负压表；时间控制器采LED显示器；自动水位控制器,

水位不足时提供警示。

8.临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。

10.一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。

西安PCT老化试验箱简介

西安PCT老化箱（又名PCT高压加速老化试验机）主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力（如：温度）与工作应力（施加给产品的电压、负荷等），加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。