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集成电路高温动态老化系统|H3TRB高温高湿反偏老化系统
点击次数:685发布时间:2016/11/13 11:10:46
更新日期:2017/10/12 11:44:53
所 在 地:中国大陆
产品型号:ES-BIC64-8
优质供应
详细内容
集成电路高温动态老化系统
★符合标准:MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准。
★适用范围:适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路,包括微处理器、逻辑电路、可编程器件、存储器、A/D、D/A等器件的工作寿命试验和高温动态老炼筛选。
技术特点:
●一板一区,可满足16种不同试验参数的器件同时老化。
●强大的图形发生系统,64路数字和2路模拟可编程信号。
●完善的、种类齐全的老化器件数据库可供用户调用。
★技术性能
产品型号 | ES-BIC64-16 | ES-BIC64-8 |
产品名称 | 集成电路高温动态老化系统 | |
高温试验箱 | ESPEC产PH-201大容量高温试验箱1台套,内箱尺寸:60cm×60cm×60cm,水平风道设计。 | ESPEC产LC-213高温箱一台,内箱尺寸:45cm×45cm×45cm,垂直风道设计。 |
试验区域 | 16个(一板一区) | 8个(一板一区) |
试验容量 | 200×16=320位(以DIP14为例) | 136×8=1088位(以DIP14为例) |
一级电源 | 8∽16台25V/40A或40V/25A等规格可选 | 4∽8台25V/40A或40V/25A等规格可选 |
二级电源 | ◆每个通道提供独立程控的VCC、VMUX、VCLK、VEE四路二级电源。 ◆每路二级电源具有过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能。 ◆输出能力:±1.00V~±18.00V/10A。 ◆电源监测:实时监测记录二级电源的电压,并可生成图形曲线,便于试验监控。 | |
数字信号
| ◆每个通道:64路数字信号。 ◆编程能力:编程深度256Kbit;***小编程步长:100ns;编程分辨率:100ns;信号频率:5MHz。 ◆寻址能力:可寻址64Gbit(老化ROM/SRAM等) A00~A35,可寻址行列地址刷新器件64Gbit(老化DRAM/SDRAM等)AXX~A17,AYY:A00~A17。 ◆信号特性:每路均具有数据、地址、控制、三态属性编辑功能。 ◆驱动能力:IOL≥300mA、IOH≥100mA、Tr≤50ns、Tf≤50ns。 | |
模拟信号 | ◆模拟信号数:2路 ◆波形类型:正弦波、三角波、前沿锯齿波、后沿锯齿波、矩形波。 ◆模拟信号指标:信号可编程频率:1Hz~32KHz;程控幅度范围Vpp:0~±10V; 直流偏移量范围Vdc:0~1/2 Vpp;编程步长: 0.01V;驱动能力:≥1.0A; | |
上位机 | 工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标。WINDOWS操作界面,友好的人机对话窗口,强大的图形编辑能力以及强大的器件库供用户选择,软件操作简单易学。更有系统查询诊断功能,试验状况一目了然,方便用户随时查验。 | |
电网要求 | 单相AC220V,6KW | 单相AC220V,3KW |
外形尺寸 | WхHхD:140х188х132(cm) | WхHхD:105х188х112(cm) |
重量 | 约500kg | 约300kg |