据物理学家组织网2013年6月中旬报道，一个由美国密歇根大学等单位研究人员组成的小组开发出一种纳米级的“温度计”，能从原子尺度测量热散逸，并首次建立了一种框架，来解释纳米级系统的热散逸现象。这一成果为开发体积更小、功能更强的电子设备扫除了一项重要技术障碍。相关论文发表在《自然》杂志上。
        雷迪实验室博士生李宇哲（音译）等人开发出一种技术，特制了一个稳定的原子设备和一种纳米大小的温度计，将二者结合做成一种圆锥形工具。在分子样本线路中，圆锥形工具和一片黄金薄片之间能捕获一个分子或原子，以研究其热散逸。他们通过实验显示了一个原子级系统的变热过程，以及这一过程与宏观尺度变热过程的不同，并且设计了一个框架来解释这一过程。

        雷迪解释说，在可接触的宏观世界里，电子天平当电流通过导线时，整个导线都会发热，与其相连的所有电极也是如此。相比之下，当“导线”是纳米大小的分子，而且只和两个电极接合时，温度升高主要发生在二者中。“在原子级设备中，所有热量集中在一个地方，很少会到其他地方。”

　　  雷迪说：“我们的研究还进一步证实了物理学家列夫·朗道提出的热散逸理论的有效性，并深入理解了热散逸和原子尺度的热电现象之间的关系，这是从热到电之间的转变。”