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光电鼠标行走寿命试验机
点击次数：66发布时间：2011/12/28 16:43:09
更新日期：2012/1/12 17:07:26
所 在 地：中国大陆
产品型号：HK-SB-XZ
相关标签：光电鼠标行走寿命试验机
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详细内容
光电鼠标行走寿命试验机HK-SB-XZ
设备用途:
光电鼠标行走寿命试验机可模拟光电鼠标在一定荷重下行走之状况，通过计算监测，了解鼠标行走轨迹及寿命。
设备特点:
光电鼠标行走寿命试验机采用调速电机驱动、手动升降上盘，专用夹具设计，让你的工作跟简捷方便；
本试验机可同时测试3个鼠标，并备有三组导向孔，满足不同测试要求
设备技术参数:
| 型号 | HK-8536 |
| 产品名称 | 光电鼠标行走寿命试验机 |
| 同时测试试样 | 3pcs |
| 试验荷重 | 100g±5g |
| 测试速度 | 89～392mm/sec（可调） |
| 测试行程 | 0～300KM（可设置） |
| 体积 | W600×D600×H550mm |
| 重量 | 45kg |
| 电源 | AC220V,50Hz 5A 或指定 |
