产品展示
X射线荧光镀层厚度测量仪
点击次数：139发布时间：2012/1/18 16:47:25
更新日期：2012/1/18 16:47:25
所 在 地：其它
产品型号：SFT9200
优质供应
详细内容
产品简介
是改进SEIKOSFT3000而上市的一种新产品，添加了SFT3000系列没有的激光对焦，自动样品台等功能，使使用者操作更简便更快捷的仪器。与他社仪器相比具有2048通道的MCA采样分析电路，大大减小了分析误差并配备了5种圆形，方形准直器，不受样品形状的影响能够更准确地进行测量。
产品介绍：
型号：SFT9200／SFT9250／SFT9255
仪器的特长：广泛应用型
可测量元素：原子序号22（Ti）～83（Bi）
X射线源：小型空气冷却型高功率X射线管球（W靶）
管电压：45kV管电流：1mABe窗
滤波器：一次滤波器：A1-自动切换
二次滤波器：Co-自动切换
照射方式：上方垂直照射方式
检测器：比例计数管
仪器校正：自动校正
准直器（标准配置）：○型（三种）
□型（三种）
安全性能：样品室门锁，样品防冲撞功能
样品图像对焦：有（激光对焦）
样品观察：CCD摄像头固定倍率、卤素灯照明
焦点切换功能：3段切换9200：10／40／70mm
9250：10／25／40mm
应用 单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、无电解镍（*多可测5层）
软件 薄膜FP法软件
测量功能：自动测量、中心搜索、图像处理
修正功能：基材修正、已知样品修正、人工输入修正
统计处理功能：MS-EXCEL®
报告制作功能：MS-WORD®
