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X-CITE SDD型台式X射线荧光光谱仪
点击次数:41发布时间:2013/6/27 9:53:42
更新日期:2024/12/25 9:10:51
所 在 地:美洲
产品型号:X-CITE SDD型
优质供应
详细内容
6)避免使用液氮冷却,节省费用和时间;
7)硅漂移探测器(SDD)具有电子噪音低和高计数率的特点,与Si-PIN 探测器相比,SDD 探测器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析结果,适用于重元素及轻元素。
主要用途:
石油化工、建筑、教育科研、矿物开采、制药、法医鉴定等。
技术参数:
测量能力 | |
测量范围 | F(9)-Fm(100) |
元素含量分析范围 | sub ppm - 100% |
X光管 | |
X光源 | Rh/Ag/Mo/W/Pd – 阳级 |
X-射线电压 | 40kV, 18W |
激发模式 | 直接使用过滤器 |
稳定性 | 室温条件下精确到0.1% |
X光探测器 | |
探测器 | 硅漂移探测器,避免使用液态氮 |
分辨率 | 129 eV ± 5eV |
窗口 | Be |
特性 | |
自动成样 | 8/16个位置 |
工作条件 | 空气/真空/氦气 |
滤光片 | 6款可选的软件 |
电源 | 115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz |
脉冲加工 | 多信道分析 |
尺寸(L×W×H,cm) | 55×55×32(不含包装),80×80×65(含包装) |
重量 | 50Kg(净重),90Kg(总重) |
样品室尺寸 | 22 x 22cm, H=5cm |
电脑 | 集成 pc |
软件 | |
操作软件 | nEXt,运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法 |
控制 | 样品激发,探测,样品操控,数据采集及处理的自动控制 |
光谱处理 | 逃逸峰及背底的自动去除,自动重叠峰解析,图解式统计报告 |
定量分析算法 | 考虑共存元素效应的多元素回归法(六种模式)。总计数,净计数拟合及数字滤波器法。 |
报告 | 用户可自定的数据报表及打印形式 |