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梅特勒XS分析天平
产品特性
1. 采用高精度高分辨率后指示传感器，满足用户高精度的称量需求
2. 优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
3. 完全可拆卸，清洗的玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁
4. 丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、，密度测量、动态称量
5. GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作
| 型号 | XS105DU | XS205DU | XS64 | XS104 | XS204 | XS205DR |
| 称量值（g） | 41/120 | 81/220 | 61 | 120 | 220 | 81/220 |
| 可读性（mg） | 0.01/0.1 | 0.01/0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1/1 |
| 重复性（sd）（mg） | 0.02/0.1 | 0.02/0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1/0.7 |
| 线性误差（mg） | 0.2 | 0.2 | 0.2 | 0.2 | 0.2 | 0.5 |
| 典型稳定时间（s） | 4/1.5 | 4/1.5 | 1.5 | 1.5 | 1.5 | 3.5/1.5 |
| 秤盘尺寸（mm） | 78*73 | 78*73 | 78*73 | 78*73 | 78*73 | 78*73 |
