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产品展示

比表面积测试仪

点击次数:795发布时间:2012/2/22 10:24:33

比表面积测试仪

更新日期:2015/2/10 8:18:31

所 在 地:中国大陆

产品型号:HYA2010-C6

简单介绍:测试方法:借助于气体吸附原理,静态真空容量法。 测量范围:比表面积0.0005m2/g(氪气吸附)至无上限。孔径分析范围:0.35nm-500nm。测量精度:重复性误差〈±0.1%主机功能:借助于气体吸附原理(典型为氮气),吸附、脱附等温线测定。单点和多点BET比表面积。Langmuir比表面积测定。BJH介孔、大孔分析。BET比表面积测定。t-plots图法微孔分析,以及外表面积测定。as-plots微孔总面积。MP法微孔分析。可以升级可进行DFT密度函数理论;包括NLDFT理论等。(注:可以加装分子泵机组)创新包括:1.加热脱气和样品分析同位进行而不会对样品分析管路造成污染的世界独创技术;2.智能选择多容量空间技术;3.全不锈钢真空系统连接密封采用金属密封技术;4.真空系统内壁采用镀银技术。5.真空系统采用测试空间外面另加一层真空保护层技术。

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详细内容

 

          
HYA2010-C6全自动静态容量法比表面及孔径分析测试仪 
 
比表面积测试仪产品名称:全自动静态容量法比表面及孔径分析测试仪
比表面积测试仪产品型号;HYA2010-C6
比表面积测试仪产品类别:物理分析仪
比表面积测试仪性能参数:
              1.测试方法:借助于气体吸附原理,静态真空容量法。                                                  
2.比表面积分析范围为0.0005 m2/g至无上限。
3.孔径的测量范围为3.5埃至5000埃。
4.微孔区段的分辨率为0.2埃。
5.孔体积*小检测: 0.0001 cc/g。
6.主机功能:借助于气体吸附原理(典型为氮气),吸附、脱附等温线测定。单点和多点BET比表面积。Langmuir比表面积测定。BJH介孔、大孔分析。BET比表面积测定。t-plots图法微孔分析,以及外表面积测定。as-plots微孔总面积。MP法微孔分析。可以升级可进行DFT密度函数理论;包括NLDFT理论等。
比表面积测试仪产品介绍
HYA2010-C6装有7路共17个传感器(国产),一路对P0适时测试,确保P0的性,另6路对6个样品同时进行分析,可以同时测试6个样品的比表面积和孔径分布(包括超微孔)。 (注:加装有分子泵)。

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企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【未认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:****
  • 企业类型:生产商
  • 注册资金:人民币***万

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