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FLBQ激光光束分析仪
点击次数：190发布时间：2012/3/19 10:47:44
更新日期：2012/8/13 16:34:15
所 在 地：中国大陆
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详细内容
FLBQ激光光束分析仪
1、仪器主要功能
FLBQ激光光束质量分析系统能够测量激光光束的二维和三维分布（长短轴大小、光强的空间分布），配合精密刻度导轨能计算出激光光束的1/2发散角和1/e2发散角。不仅适用于小发散角（如固体、气体激光器等）的测量而且适用于大发散角的半导体激光器。
（1）图象获取功能
实时采集：可随时监测光束强度（功率、能量）的二维分布、给出三维分布图及通过光束内任一点的沿X-Y方向的光强分布曲线，并显示直径等参数。
图象“冻结”：可根据需要捕获典型的光束图象，作为TIFF文件存贮，供分析处理。
连续及脉冲图象的“抓取”：具有“软触发”功能，其软触发阈值可以调节。它不需要触发电脉冲，增加了使用的方便性和安全性，特别是对于Q开关脉冲激光器的场合，由于不需要电脑与激光器之间的电信号相接，减小了硬件损坏及相互干扰的可能性。
（2）分析测量功能
二维光束截面功率、能量分布；
光束截面功率、能量的三维图（任意方位角，俯仰角）；
通过光束截面内任一点沿X，Y方向的光强分布；
不同定义下的光束直径及与高斯分布的符合程度；
（3）其它功能
自动反差调整功能
快速连续取、放多幅图象
打印功能——将屏幕上显示的内容或被选取的部分“所见即所得”地打印出（可与激光、喷墨等多种型号打印机适配）。
2、主要技术指标
a） 测试波长范围：（可选）；
| 波长测量范围（nm） | 发散角测量精度 | 激光功率（W） | ||
| FLBQ-400-1100 | 400-1100 | <5% | 100W | |
| FLBQ-400-1550 | 400-1550 | <5% | 100W | |
| FLBQ-190-1310 | 190-1310 | <5% | 100W | |
| FLBQ-1440-1605 | 1440-1625 | <5% | 100W | |
| FLBQ-900-1700 | 900-1700 | <5% | 100W | |
| FLBQ-400-2200 | 400-2200 | <5% | 100W | |
b） 测试激光功率范围：0.01mW~100W （CW）；
c） 测试激光工作模式：连续和脉冲模式兼容；
d） 测量光斑半径: 30mm；
e） CCD分辨率：>400万像素；
f） 测试激光光束的二维、三维分布；
g） 测量暗箱采用吸光材料，以消除杂光干扰；
h） 光学元件置于光学精密调节架上，以其平稳调节；
i） 光学暗箱外形尺寸:624mm×360mm×160mm。
3、光路原理
（1）原理框图
| 激光器 |
| 光学暗箱 |
| 显示器 |
| PC机: 图像采集卡 系统软件包 |
（2）暗箱光路
4、主要配置
| 部件名称 | 数量 | 型号或功能描述 |
| 计算机主机 | 1 | 采用pc机，内置显卡、声卡、预装WinXP操作系统 |
| 显示器 | 1 | 19英寸液晶显示器 |
| CCD1 | 1 | 适合于400-1100nm测试 |
| CCD2 | 1 | 可选。 |
| 图像采集卡 | 1 | 数据采集。 |
| 软件包 | 1 | 用于测试数据处理 |
| 精密测试道轨 | 2 | 用于器件固定与移动 |
| 中性滤光片 | 3 | 用于衰减大功率激光（三片，拧到CCD上直接使用）。 |
| 附加滤光片（整套） | 1 | 补充衰减 |
| 镜头 | 1 | CCD专用（需配合投射屏使用） |
| 导轨与支架（整套） | 1 | 用手移动光学器件，测试距离。固定光学器件等 |
| 红外感光卡片 | 1 | 用于调试光路 |
5、参考图片
