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半导体激光器（LD）综合参数测试仪
点击次数：283发布时间：2012/3/19 10:51:13
更新日期：2012/8/13 16:34:11
所 在 地：中国大陆
产品型号：FLDT
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详细内容
半导体激光器（LD）综合参数测试仪
一、简要描述
FLDT系列半导体激光器（LD）参数测试仪是测量半导体激光器主要性能参数和特性指标的仪器。通过给受试LD提供不同的工作电流，采集不同工作条件下受试LD的各种参数信号，计算得出该LD的光电转换特性、伏安特性、光谱特性、远场/近场特性和热特性。打印测试报告，保存数据。
二、应用
LD参数测试仪系列产品测试光功率范围从0.1mW-1000W以上，光谱测试范围从400-1700nm，根据器件封装形式的不同选择不同的夹具，包括： TO系列、COS 、C-MOUNT、BAR系列、光纤输出系列等等。同时可以根据不同行业的需要进行设计，满足科研、生产、教学等需要。
三、特点
l 系统按功能模快化, 采用单片机控制, 性能稳定，维修使用方便；
l 测试功率覆盖范围宽：0.1mW~1000W以上；
l 测试封装类型：TO系列、光纤输出系列、Bar系列、管芯系列以及各种组件等等；
l 高质量的LD驱动电源：既可连续工作，又可脉冲工作，具有LD过流保护、低噪声、无浪涌和过脉冲保护等功能；
l 自动化程度高：整个测试、数据采集和数据处理、显示及打印都由系统自动完成；
l 操作简单、测量速度快。
四、功能/技术指标
系统主要功能包括测量LD的光电特性（LI和LIM）、伏安特性（IV）、光谱特性（SP）、远场特性（FF）、近场特性（NF）和热特性（T），具体如下：
l 进行LIV和LI测试，绘制LIV曲线和LIM曲线，检测、推算工作电流、输出光功率、工作电压、阈值电流、功率效率、斜率效率、微分电阻、背光电流等参数；
l 进行光谱测试：绘制光谱曲线，推算峰值波长、光谱谱宽；
l 进行远场测试: 绘制远场曲线，推算水平发散角、垂直发散角；
l 进行热阻测试；
l 测试数据能够保存、导入，可打印标准测试报告。
l 可测量参数：
| IO | 工作电流 | Ith | 阈值电流 |
| PO | 输出光功率 | ES | 斜率效率 |
| VO | 工作电压 | EP | 功率效率 |
| Rd | 微分电阻 | λp | 激光峰值波长 |
| IM | 背光电流 | Δλ | 波长宽度 |
| θ∥ | 远场水平发散角 | θ⊥ | 远场水平发散角 |
| Rth | 热阻 | | |
五、参考图片
