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3H-2000A比表面特征简列:
◆具有国内的一体式原位加热吹扫装置;并具有吹扫程序定时功能;
(名称:具有原位吹扫功能的比表面 号:ZL200920110453.4)
◆具有国内首创并的程控风热助脱系统;
(名称:具有吹风加热功能的比表面 号:ZL200920110451.5)
◆具有国内的气体净化冷阱功能,使气体纯度提高10倍以上;
(名称:气体净化冷阱及比表面 号:ZL200920110450.0)
◆具有国内首创并的热导池检测器恒温系统;
(名称:气体恒温装置及比表面 号:ZL200920110454.9)
◆在国内具有粒度模型估算数据处理功能,并给出粒度估算报告;
◆仪器参数大屏幕5英寸LCD液晶显示;
◆具有国内的液氮温度监测功能;
◆具有国内的检测器气源开关指示与保护装置;
◆贝士德样品管;
(名称:比表面U型样品管 号:ZL200920110452.X)
3H-2000A比表面性能参数:
测试方法: 多功能性,可进行固体标样参比法比表面测试、粒度估算;
测试精度:测试精度高、重现性好。测试相对误差小于±1.5%;
测试范围: 测试范围广,可测定比表面在0.01m2/g以上的范围内的物质,满足所有粉体物质及多孔物质比表面积测试仪的测试;样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等。
测试时间: 测试时间:同时可测试3个样品,平均每个样品测定时间约6分钟,仅为国外同类仪器测试时间的四分;以上测试时间不包含样品吹扫净化预处理时间。
吹扫处理: 具有国内一体式脱气装置(非分体式),解决了脱气、测试一体化问题,实现了试样原位处理,只需一次安装,与空气零接触,了样品预处理的性与性;
(名称:具有原位吹扫功能的比表面 号:ZL200920110453.4)
氮气分压控制:程控伺服分压调节系统,全程自动运行;
风热助脱: 具有国内程控风热助脱装置,得到尖锐快速的脱附峰,减少背景误差;
(名称:具有吹风加热功能的比表面 号:ZL200920110451.5)
检测器零漂抑制: 具有国内检测器恒温系统,使检测器10min的漂移小于0.1mV,测试结果的性与稳定性;
(名称:气体恒温装置及比表面 号:ZL200920110454.9)
粒度模型估算: 具有国内粒度模型估算数据处理功能,并给出粒度估算报告;此功能能够根据比表面给出各个模型下的平均粒度,对研究者判断颗粒形态起到指导作用;
气体净化冷阱: 具有国内气体净化冷阱,使气体纯度提高1个数量级以上;
(名称:气体净化冷阱及比表面 号:ZL200920110450.0)
气源开关保护: 具有国内气源开关指示与保护装置,断气自动断电,避免断气带电误操作对检测器的损害;
吹扫定时: 具有国内吹扫定时功能,定时精度1秒。完成后自动切断加热电源,并声音提示;
测试配件: 标配40L氦氮混合气体,气体使用时间更长,平均使用2年以上;贝士德样品管,测试精度的同时使得样品管装样方便并不局限于粉末样品测试;
3H-2000A型碳化硅比表面仪器配件:
测试配件: 标配高纯He、高纯N2和氦氮混合气体3瓶气体,气体使用时间更长,平均使用2年以上;贝士德样品管,测试精度的同时使得样品管装样方便并不局限于粉末样品测试;
仪器硬件: 硬件采用稳定而耐用的部件,关键部件全部采用进口配件,经过严格检测,适合频繁测试;
3H-2000A型碳化硅比表面控制系统:
控制系统: 吸附脱附过程全自动程序控制,各个重要环节声音提示;仪器运行中操作人员进行其他工作或离开也不用担心耽误实验;
测试稳定: 大屏幕5英寸LCD液晶显示,各个机械部分动作指示,使仪器工作状态参数软件、硬件同时显示,即使软件未打开也可掌握仪器状态,使得仪器稳定程度更高;
测试气路: 采用低温氮吸附动态色谱法,国内外独特并联气路,消除了环境温度、湿度、大气压力等外界影响,无需抽真空,试验室条件要求相对宽松;
数据处理: 软件为自主研发的高精度数据处理系统,高采样频率100Hz,
全自动控制;具有功能完善的比表面数据处理能力;USB通讯接口。
碳化硅比表面仪器售前售后服务:
◆ 售前服务
贝士德公司对客户提供样品免费试测,以方便客户采购前的调研比对,了解测试数据与国外仪器的差别;另外我们提供多次测试,以方便客户评价仪器测试的重复性及稳定性。如果欲采购客户需要了解仪器在使用单位的使用情况和效果,我公司可以提供使用厂家电话咨询了解。
◆ 售后服务
贝士德公司提供免费门到门的货运服务,到货后公司技术人员负责免费上门进行现场安装、调试并进行2-3日的操作技术培训;贝士德公司对提供的仪器保修期内免费保修,终身维修、维护与技术咨询,技术咨询服务的内容包括新产品新技术的通报、软硬件技术咨询与升级、提供技术方案和研究解决技术难题;保修期外的维修服务只收取成本费;定期对用户的使用情况进行电话或上门回访,及时解决可能出现的问题;为每个客户的仪器状态、使用情况及售后建立详细的服务档案,进行跟踪服务,以客户仪器的、稳定地正常运转。
碳化硅比表面的发展历程:
3H-2000型系列碳化硅比表面仪器的*早型号为HPDAI-88型动态吸附仪,依据国家标准为GB/T 10722-2003(原GB/T 10722-1999),该型号在1988年8月5日通过化工部科技局鉴定,技术鉴定证书编号为:【88】化科鉴定第48号。经过改进升级后3H-2000型系列仪器在2002年12月16日通过国家标准物质研究中心的计量检测,证书编号为:计测字第 2002-(17)-017。2004年推出BET多点法教学用3H-2000II型;2005年推出3H-2000III型;2008年推出的全自动智能运行的3H-2000A型,以及BET原理的BET单点法的3H-2000BET-S型,BET多点法的3H-2000BET-M型,BET多点法的3H-2000BET-A型;