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热膨胀仪 参数：
温度范围：RT ... 1200℃（中温炉）, RT ... 1600℃（高温炉）
升降温速率：0 ... 50 K/min（取决于使用的炉体）
样品支架：石英支架（< 1100℃），氧化铝支架（< 1600℃）
测量范围：500／5000 μm
样品长度： 50 mm
样品直径： 12 mm
ΔL 分辨率：8 nm
气氛：惰性、氧化、静态、动态
气体流量计和气体阀（可选）
c-DTA®（计算型 DTA）：可在热膨胀测试的同时得到 DTA 曲线，并可用于温度校正。（选件）
集成化的控制系统
使用 USB 接口与 PC 机连接
升降温速率：0 ... 50 K/min（取决于使用的炉体）
样品支架：石英支架（< 1100℃），氧化铝支架（< 1600℃）
测量范围：500／5000 μm
样品长度： 50 mm
样品直径： 12 mm
ΔL 分辨率：8 nm
气氛：惰性、氧化、静态、动态
气体流量计和气体阀（可选）
c-DTA®（计算型 DTA）：可在热膨胀测试的同时得到 DTA 曲线，并可用于温度校正。（选件）
集成化的控制系统
使用 USB 接口与 PC 机连接
热膨胀仪 产品说明：
主要特点
1.DIL提供多种类型的样品支架与炉体配置。
2.提供各种配件使测试更灵活方便。
3.提供速率控制烧结软件（RCS）。
4.提供 c-DTA 功能，可通过图谱分析计算得到差热DTA曲线。
仪器介绍
研发的 DIL 402 PC 热膨胀仪集众多优点于一身：操作十分简便，极广泛的应用领域，的测试性能等等。差动传感器的化设计使得仪器即使是在没有额外恒温设备时都可以提供超高重现性。
仪器采用卧式设计，这种设计的优点在于炉子容易操作，装载样品简便。即使非理想尺寸的样品都可以很轻松的放进管状样品支架的凹槽中。热电偶直接接近样品测温，温度测量的重复性。同时该仪器的 c-DTA 功能使得仪器在测试热膨胀系数的同时还能测得样品的吸放热效应。
仪器备有两种炉体：RT～1200℃ ，RT～1600℃。两者可自由更换。这样的设计扩展了仪器的应用范围。
1.DIL提供多种类型的样品支架与炉体配置。
2.提供各种配件使测试更灵活方便。
3.提供速率控制烧结软件（RCS）。
4.提供 c-DTA 功能，可通过图谱分析计算得到差热DTA曲线。
仪器介绍
研发的 DIL 402 PC 热膨胀仪集众多优点于一身：操作十分简便，极广泛的应用领域，的测试性能等等。差动传感器的化设计使得仪器即使是在没有额外恒温设备时都可以提供超高重现性。
仪器采用卧式设计，这种设计的优点在于炉子容易操作，装载样品简便。即使非理想尺寸的样品都可以很轻松的放进管状样品支架的凹槽中。热电偶直接接近样品测温，温度测量的重复性。同时该仪器的 c-DTA 功能使得仪器在测试热膨胀系数的同时还能测得样品的吸放热效应。
仪器备有两种炉体：RT～1200℃ ，RT～1600℃。两者可自由更换。这样的设计扩展了仪器的应用范围。
