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介绍
傅立叶FTIR 200-X系列红外光谱仪是傅立叶变换红外光谱仪中低成本的型号,却应用了多种独特技术来确保此款紧凑型的红外光谱仪仍具有很高的性能。傅立叶FTIR 200-X的尺寸只有59 X 39 X 19 cm,是一款紧凑而通用的傅立叶红外光谱仪。FTIR 200-X型在光学设计、软件及固件设计方面独具特色,可以显著减少总分析次数。干涉计采用新型的麦克逊自补偿光学系统,其能去除许多常规光学干涉计中存在的光学校正问题。FTIR 200-X 设计中避免了传统三面直角棱镜光源的使用并能动态校正。这就意味着此仪器不仅能在研究机构、大学内使用,而且需要的话,也能在实验室外或偏远地区使用。
干涉计性能
所有Interspec FTIR仪器能提供高的信号:噪音比率(S:N),高达12000:1。红外的分辨率是2 cm-1,并可扩展至32 cm-1 (可选 0.5和1 cm-1)。全波长范围是7000 to 400cm-1 (红外) 或15000 to 3850 cm-1 (近红外)。
样品室
正如所见样品室很大,能满足所有涉及FTIR光谱分析的样品操作需要。这种独特的样品室也能使用不同附件厂家提供的各种附件。它总尺寸是W20 X D26 X H16 cm。光轴在样品室底部上方74.5 mm处,并且在光轴和样品室盖之间有90 mm的空间。
扩展波长范围
为了方便使用不止一个电子束分裂器或检测器,仪器的电子束分裂器和检测器可以替换,从而使FTIR 200-X可以在15000 to 400 cm-1的波长范围内使用。
电子束分裂器 | 波长范围 |
KBr | 7,000 to 400 cm-1 |
ZnSe | 5,000 to 500 cm-1 |
CaF2 | 10,000 to 1,000 cm-1 |
Quartz | 15,000 to 3,000 cm-1 |
检测器选项
标配的检测器是选用高灵敏度的DLATGS焦热电设计,除了一些高要求的应用外,它可以为所有应用提供的可能的信噪比。尽管如此,还是有很多在红外波段的应用,在这些波段需要有能够进行高分辨率的分析和高吸收特性的材料。对于这些应用,可以选择低温制冷的MCT检测器,每个MCT检测器对应特定的波长范围。对于近红外光谱区域,有两种光电式检测器可以选择:Si 和 InGaAs。
软件
FTIR Interspec的视窗软件随整套系统一并提供。此软件能满足全部标准分析的要求,包括光谱数据处理,仪器控制,多图同时预览。在干涉图或光谱的分析模型上,也能提供滤波、基线校正、交互编辑和数据操作这些便利。同时也有光谱扣除、混合扣除、滤波衍生、谱图预览等功能。数据输入和输出可以是ASCII 或JCAMP格式。其他包括Thermo/Galactic GRAMS在内的商业程序也可以使用,例如库搜索。Interspec软件程序是在32位保护模式下编写的。我们为不同功能的应用设计了专门的软件,这些软件操作简便而且免费提供。通过添加其他商业程序,比如:搜索、成份识别、Kramers Kronig变换、化学统计等,对程序的功能进行扩展,从而满足个别需求。
样品处理附件
FTIR技术的应用比以往任何时期都要广泛。这些新的应用可归因于许多相关公司开发的大量而全面的样品处理附件。这些附件都可以应用在FTIR 200-X系列设备中。所以无论什么样品,我们都能提供合适的样品处理附件,如ATR附件、镜面反射、漫反射、DRIFT、光声、液体取样、气体池、气体清洗系统、水压或人工取样、薄膜制作工具、样品研磨器械、微量称样、可充电池、抛光工具、起偏振镜等。
空气制冷红外光源
红外光源采用的是长寿命无故障操作设备。原因很简单,我们的设计已经达到了极好的波长发射特性及很高的稳定性。光源的色温大约是1200°C. 在近红外区域,采用石英卤素灯。
干燥密封的干涉计
FTIR 200-X系列设备采用一个密封干燥的干涉计和检测器室,使干涉计内部保持较低的水汽含量,从而保证高光谱的完整性。我们提供的型号200-XZ采用ZnSe抗潮光学器件,把水气隔绝,从而能在严酷的热带环境中应用。如果用户感兴趣,可为其制作清洗设备。应用于近红外的型号200-XN采用熔融硅光学器件,使其能抵御水汽的任何影响。
型号
FTIR 200-X –标准 FTIR 带KBr光学器件。
FTIR 200-XZ – 抗潮FTIR(用于高湿度环境)带ZnSe光学器件。
FTIR 200-XN – 近红外仪器带熔融硅光学器件。
规格
波长范围,红外 | 7000 to 400 cm-1 | 红外光源 | 高强度气冷 |
波长范围,近红外 | 15000 to 3850 cm-1 | 近红外光源 | 石英-卤素灯 |
电子束分裂器,标准红外 | 多层KBr | 检测器, 标准红外 | 低噪音DLATGS |
电子束分裂器,可选 | ZnSe, CaF2, CsI | 检测器, 红外可选 | MCT |
电子束分裂器,标准近红外 | 熔融硅 | 检测器, 近红外 | Si, InGaAs 光电式检测器 |
分辨率,标准 | 2 cm-1 (8 cm-1–近红外) | 清洗功能 | 是 |
分辨率,可选 | 1.0 或 0.5 cm-1 | 附件 | 通用FTIR 附件 |
孔径比 | f 3.2 | 操作系统 | Windows 98/XP |
干涉计 | 自动校正 |
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射束直径 | 30 mm | 电源 | 90-230VAC, 12VDC, 40 W |
参考频率 | HeNe laser | 尺寸 | W59xD39xH19 cm |
喷射端口 | 可选 | 重量 | 24 kg |
样品室 | W20xD26xH16 cm | 环境温度 | 15 - 28 oC |
样品处光束 | 10 mm dia. | 环境湿度 | 低于 65% |