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比表面及孔径分布测量仪

点击次数:466发布时间:2013/7/11 15:25:05

比表面及孔径分布测量仪

更新日期:2024/10/16 14:31:22

所 在 地:中国大陆

产品型号:

简单介绍:比表面及孔径分布仪V-Sorb 2800P是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径检测仪器,采用静态容量法测量原理,众多著名科研院所及500强企业应用案例,相比国内同类产品,金埃谱比表面及孔径分布仪多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,金埃谱比表面及孔径分布仪测试结果的准确性和一致性进一步提高,金埃谱比表面及孔径分布仪测试过程的稳定性更强,金埃谱

优质供应

详细内容

比表面及孔径分析仪性能参数

测试方法及功能:氮吸附静态容量法,吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分布测定,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t-plot图法外比表面积测定;

测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积),0.35nm-500nm(孔径);

测量精度:重复性误差小于1.5%;

真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分布测定的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命;

液位控制:V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;

控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命;

样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理;

压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000Torr(0-133Kpa),0-10Torr(0-1.33Kpa);

压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15%,优于全量程的0.15%,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15%);

分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10-6-0.995;

极限真空:4x10-2Pa(3x10-4Torr);

样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等;

测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr);

数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强;
 

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企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【已认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:****
  • 企业类型:生产商
  • 注册资金:人民币***万

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