测试方法及功能:比表面积分析仪氮吸附静态容量法,吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及中孔微孔分布分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定（单点及多点）,Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t－plot图法外比表面积测定;

测定范围:0.01（㎡/g）－－至无上限（比表面积）,0.35nm-500nm（孔径）;

测量精度:重复性误差小于1.5%;

真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高中孔微孔分布测定的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命;

液位控制:比表面积分析仪V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;

控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命;

样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理;

压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000Torr（0-133Kpa）,0-1Torr（0-0.133pa）;

压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计精度（一般误差为10%-15％）;

分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10－6－0.995;

极限真空:4x10－2Pa（3x10－4Torr）;

样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等;

测试气体:高纯N2气（99.999%）或其它（按需选择如Ar,Kr）;

数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强;

数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表.

全自动比表面积分析 仪、比表面积测定 仪、比表面积及孔径分布测试仪是粉体和颗粒材料的比表面积及孔径的检测分析仪器，由金埃谱科技与兵器系统合作研发.产品设计遵循标准,完全实现制造集成化,功能模块化,操作自动化和智能化;显著提高产品可靠性,测试结果准确性,大大节省测试人员工作量. 可用于电池材料比表面积测试，催化剂材料比表面积及孔径分布测试，炭黑总表面积及外表面积测试等，广泛适用于电池材料厂,炭黑厂,科研院所,粉体材料企业,高等院校,超细粉体材料厂,催化剂材料厂,陶瓷结构材料厂,稀土催化物厂,金属氧化物厂,磁性材料厂,吸附剂厂,添加剂厂,储能材料厂等各种企业