比表面及孔分布检测仪V-Sorb 2800P是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径测定仪器,采用静态容量法测量原理,众多著名科研院所及500强企业应用案例,相比国内同类产品,多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到同类产品水平,部分功能超越国外产品.

金埃谱科技是国内*早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模,通过ISO9001质量认证的生产企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!

全自动静态容量法比表面及孔分布检测仪性能参数

测试方法及功能:氮吸附静态容量法,吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分布测量,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定（单点及多点）,Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t－plot图法外比表面积测定;

测定范围:0.0005（m2/g）－－至无上限（比表面积）；0.35nm-2nm（微孔）、2nm-500nm（中孔或介孔）;

测量精度:比表面积重复精度≤± 1.0%，*可几孔径重复偏差≤0.02nm;

真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分布检测的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命;

液位控制:V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;

控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命;

样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理,样品测试系统和样品处理系统相互独立,并且样品测试和样品脱气处理可以同时进行,避免了测试管路受到污染,从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿命;

压力测量:采用压力分段测量的进口硅薄膜电容式多支压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000 Torr（0-133Kpa）,0-1 Torr （0-0.133Kpa）,压力传感器必须提供相应进口检测证书
压力精度:高精度进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计精度（一般误差为10%-15％）;

分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10－6－0.998;

极限真空:4x10－2Pa（3x10－4Torr）;

样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等;

测试气体:高纯N2气（99.999%）或其它（按需选择如Ar,Kr）;

数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强;

数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表.