比表面积分析仪是比表面分析仪积的简称。根据实际需要,比表面分析仪积分为内比表面积分析仪、外比表面积分析仪、和总比表面积分析仪;通常未注明情况下粉体的比表面积分析仪是指单位质量粉体颗粒外部表面积和内部孔结构的表面积之和,单位m2/g。
粉体材料越细,表面不光滑程度越高,其比表面测试仪越大。由于纳米材料细度很高,一般具有比较大的比表面测试仪;吸附剂催化剂炭黑等材料的效能与比表面测试仪关系密切,一定效能需要一定范围的比表面测试仪要求;但并不是比表面测试仪越大,就粉体质量越好。例如在要求粉体球形度的情况下,粒度相当的粉体材料,比表面测试仪越大,球形程度就越差。比表面测试仪和粒径(粒径一般用中位径或目数来表示)是两个概念,没有必然联系,同样目数的两个产品不等于他们拥有相同的比表面测试仪积,也依赖与其表面光滑程度和孔结构。
全自动比表面积分析仪性能参数
测试方法及功能:氮吸附真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,样品真密度测定,t-plot图法外比表面积测定
测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积)
测量精度:重复性误差小于1.5%
真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高比表面积测定的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命.
液位控制:V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,消除因死体积变化引入的测量误差
控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命.
样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理
压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000 Torr(0-133Kpa),0-10 Torr (0-1.33Kpa)(可选)
压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15%,优于全量程的0.15%,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15%)
分压范围:P/Po 可控范围达5x10-6-0.995
极限真空:4x10-2Pa (3x10-4Torr)
样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等
测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr)
数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强.
数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表.