华测高温介电温谱测试仪

产品概述

1、专用高频测试线缆，更适合高频测量

测试引线使用4端子对配置以扩展测量端口，附带BNC阳头连接板，用于连接高温炉的测试夹具。同时测试线采用高频测试专用测试线，设计两层屏蔽，更适合高频介电参数测量。

2、温度波动小于±0.25℃，抗干扰性提高300倍

高温介电温谱测试系统运用三电极法设计原理测量，并参考A.S.T.M 标准。采用了双屏蔽高频测试线缆，提高测试参数的准确度，同时抗干扰能力更强。搭配Labview系统开发的Huacepro软件，具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合压电陶瓷与其它新材料测试多样化的需求。过压、过电流、超温等异常情况下以确保测试过程的安全；资料保存机制，当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数据，设备重新启动后可恢复原有试验数据。

3、除去电网谐波对采集精度的影响

目前电网中大量使用变频器等高频、高功率设备，将对电网造成谐波干扰。从而在高频、弱信号测量过程中影响弱信号的采集精度，华测仪器公司推出的抗干扰模块以及采用新特殊参数分析技术,实现了高达120MHz的高频测量,从而满足了很多半导体功能材料和纳米器件的测试需求。

4、除去不规则输入的自动平均值功能，更强数据处理及内部屏蔽

华测高温介电测试仪是华测仪器电子事业部采用自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，在测量10Hz-50MHz的频率瓶颈；可以分析、单独测试，采用单测和分析两种界面，让测试更简单。

得益于自动平衡电桥技术，在10Hz-50MHz的频率范围可以确保0.05%的基本精度。快达5ms的测试速度及高达50M的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可除去测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规端配置的仪器向下扩展了十倍。

产品优势

目前国内高温加热大都为管式炉或马弗炉，主要原理为加热丝或硅碳棒对炉体加热，加热与降温过程速度慢，效率低。无法实现温度的高精度测量，加热区域也存在不均匀的现象，华测仪器通过多年研究开发了一种可实现高精度，高反射率的抛物面与高质量的加热源相配置，在高速加热及高速冷却时，具有良好的温度分布。可实现宽域均热区，高速加热、高速冷却，用石英管保护加热试样，无气氛污染。可在高真空，高纯度气体中加热。设备可组成均热高速加热炉，温度斜率炉，阶段加热炉。

 它提高了加热试验能力。同电阻炉和其他炉相比，红外线反射炉节省了升温时间和保持时间及自然冷却到室温所需时间，在试验中也可改写设定温度值。从各方面讲，都节省试验时间并提高实验速度。同高频炉相比，不需特殊的安装条件及对加热试样的要求。同电阻炉一样安装简单，有冷却系统安全可靠。提高了试验人员的工作效率，实现温度控制操作！

1、高速加热与冷却方式

高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体冷却装置，可实现快速冷却。

2、温度高精度控制

近红外镀金聚焦炉和温度控制器的组合使用，可以准确控制样品的温度(远比普通加温方式)。此外，冷却速度和保持在任何温度下可提供高精度。

3、不同环境下的加热与冷却

华测高温介电测试仪使用石英玻璃制成，操作简单。加热/冷却可用真空、气氛环境、低温（高纯度惰性气体静态或流动），红外线可传送到加热/冷却室。

产品参数

1.模式选择：根据等效电路可选择并联模式和串联模式

2.测量参数：ε介电常数、（ε'、ε''介电常数实部与虚部）、C电容、(C’、C''电容实部与虚 部、D损耗、R电阻、(R'、R''电阻实部与虚部）、Z、（Z'、Z''阻抗实部与虚部）、 Y导纳、Y’、Y''（导纳实部与虚部）、X电抗、Q品质因数、cole-cole图谱、机电耦合系数Kp等

3.测量方式：软件可进行介电温谱与介电频谱

4.温度设置：可设置升温速度、降温速度、温度、测量等待时间等

5.测量频率：软件可设置测试的频率

6.数据处理：测量数据生成Excel及pdf两种文件格式

7.温度范围：RT-800 (1650°)

8.控温精度：±0.25℃

9.升温斜率：10℃/min（可设定）

10.测试频率：10Hz~120MHz

11.加热方式：近红外加热

12.冷却方式：水冷

13.输入电压：220V

14.样品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

15.电极材料：铂金

16.夹具辅助材料：99氧化铝陶瓷

17.绝缘材料：99氧化铝陶瓷

18.测试功能：介电温谱、频谱

19.数据传输：4个USB接口

20.设备尺寸：600×500×350mm

应用领域

华测高温介电测试仪可以测量陶瓷材料的高温介电常数,了解其在不同温度、频率下的电学性能。 

广泛应用于产品检测以及新材料电学性能研究等。

原创作者：北京华测试验仪器有限公司