功能材料电学综合测试系统

型号：HCTD3000

一、功能材料电学综合测试系统设备优势

本套系统可完成功能材料铁电、压电、热释电、介电、绝缘电阻等电学测试，以及高、低温环境下的电学测试。与电学jian测仪器在通讯协议、数据库处理、软件兼容性做了大量的接口。无论在软件与硬件方面，使本套仪器在未来易于扩展。节省改造时间与硬件成本。

华测仪器依托多年高压控制、测试方面多年的技术成果，an全保护：增加TVS保护过压、过流、过温等技术，更加an全与可靠。软件设计：，在测试功能、数据处理、cao作等人性化等方面做了大量的改进；测量精度：与品牌仪器做了大量的测试对标，与国内航天计量院通力合作；进行jian测计量。保证数据的有效与真实。

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二、测试功能

HCTD3000功能材料电学综合测试系统具有宽频率响应范围及宽测试电压范围，性价比fei常高，满足了用户追求高性价的需求。主机内置电压档位有±10V，±30V，±100V，±200V和±500V可选。在±10V的内置电压下，电滞回线测试频率达到2MHz；在±500V的内置电压下，电滞回线测试频率达到±2kHz。此系统还可外部扩展电压到4kV和10kV，也可加载选件实现压电、热释电和磁电测试功能。此系统包含Vision基本铁电管理测试软件。此外还可外部扩展电压到4kV和10kV，Premier II在不改变样品连接的情况下可执行电滞回线，脉冲，漏电流，IV和CV测试，也可加载选件实现压电、热释电、磁电测试和晶体管特性测试功能。

标准配置

Dynamic Hysteresis 动态电滞回线测试频率；

PUND 脉冲测试：脉冲宽度2μs，zui小上升时间1 μs；Fatigue 疲劳测试,频率300kHz；

Retention 保持力测试；

Static Hysterestic 静态电滞回线测试；

Imprint 印迹；

Leakage current 漏电流测试：100fA to 1A

更多测试功能

高温部分通过近红外炉实现可实现RT~1500°c环境下测试低温部分通过冷热台实现可实现-180~450°c环境下测试高、低温介电温谱测试频率I 测试范围20HZ-30MHZ。

三、铁电参数测试功能

Dynamic Hysteresis 动态电滞回线测试频率

Static Hysterestic 静态电滞回线测试；

PUND 脉冲测试；

Fatigue 疲劳测试；

Retention保持力；

Imprint印迹；

Leakage current漏电流测试；

Thermo Measurement 变温测试功能。