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■ 全波段光谱透过率测量，反射角分布测量
■ 全波段光谱反射率测量，反射角分布测量
■ 波长范围:200nm-IR
■ 不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构
■ 双层平台独立旋转，重复定位精度0.005度，分辨率0.00125度；
■ 样品置于上层旋台，探测器置于下层旋台，样品和探测器可以任意角度工作；
■ 台面上放置一个五维调整镜座，可将样品调整到旋台的旋转中心并且垂直于台面
■ 功能扩展：测量光栅衍射效率
■ 全波段光谱透过率测量，反射角分布测量
■ 全波段光谱反射率测量，反射角分布测量
■ 波长范围:200nm-IR
■ 不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构
■ 双层平台独立旋转，重复定位精度0.005度，分辨率0.00125度；
■ 样品置于上层旋台，探测器置于下层旋台，样品和探测器可以任意角度工作；
■ 台面上放置一个五维调整镜座，可将样品调整到旋台的旋转中心并且垂直于台面
■ 功能扩展：测量光栅衍射效率
联系人：赵士国
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