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高性能影像校正光谱仪
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详细内容
OmniEvo光谱仪是卓立汉光推出的将自有的“谱 王”系列(Omni-λ180i)影像校正光栅光谱仪与英国 Andor公司的iVac制冷型CCD进行整合的新一代高性能光谱 仪产品,充分发挥了“谱王”系列产品的光学分光性 能以及iVac制冷型CCD优良的弱光探测性能,具有极高的 性价比,是进行荧光、拉曼光谱实验的选择。 |
成熟的光学设计能力
OmniEvo高性能光谱仪的光学设计,均采用经典的C-T结构,并结合公司多年的研发经验加以改进,在光学分辨率、通光效率和杂散光抑制等各项关键指标上达到的平衡。其中采用OmniEvo180所采用的Omni-λ180i型影像校正光谱仪,更是国内运用影像校正设计和调校技术的光栅光谱仪,其性能达到了水平。
全进口光栅
OmniEvo光谱仪采用进口光栅(Newport公司生产),高质量的光栅确保了仪器的光谱性能指标。
高灵敏的弱光探测能力 OmniEvo高性能光谱仪选用了Andor公司的科研级、制冷型CCD作为光谱探测器件,在400-1000nm范围内进行了响应度优化,的量子效率达到60%;芯片的制冷温度达到了-60℃,使得其读出噪声仅为6.2e/count,因而能够满足大部分的弱光光谱探测应用。另有制冷温度更低至-100℃的背感光CCD可选,噪声更低,峰值量子效率高达80%以上;还提供适用于900-1700nm范围内使用的制冷型线阵InGaAs探测器,可用于近红外波段的光谱信号探测。 |
灵活的光输入结构选择
OmniEvo高性能光谱仪采用的是标准的狭缝入口,开口宽度可在0.01-3mm之间灵活自由选择;通过可以选配光纤作为光输入附件,既可用于单点测量,也可以选择多通道光纤用于多点同时测量。 联系方式: