FISCHER XULM X射线荧光镀层厚度测试仪

一、仪器介绍

Fischerscope X-RAY XUL除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金层中各元素的含量。至于需要测量电镀槽内的金属离子的浓度也是十分简单。

XUL 是结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计。此仪器是采用能量散射X-射线荧光测量原理，符合DINENISO3497及ASTM B568标准来进行非破坏及不接触的测量。

测量模式用于： 

单、双及三层镀层系统； 
双元及三元合金镀层的分析和厚度测量； 
双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析 （两层的厚度和合金成分都能被测量）； 
能分析多达四种金属成分的合金；电镀液中金属离子含量； 
可编程的应用项图标，用于快速应用项选择 ；
完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估 ；
报告生成，数据输出；

菜单中的某些选择项可授权使用；
语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文 ；

注： 基础WinFTM软件版本不允许创建新的应用，所要求的应用不得不在定货时明确。当校准标准块与仪器一起定购时，可在交货前预先创建应用。若没有定购校准标准块，则只可使用已预装的*无需标准块的测量应用。 
可选择的Super WinFTM软件（订货号602-950）提供了以下的附加功能：

可随意创建测量应用；

可把每种测量模式的测量范围设定为想要的理论上的测量精度；

快速的频谱分析以决定合金成分。

二、主要特点 
　　FISCHERSCOPE® XUL®设计为X-射线管和探测器系统位于测量台下部。因此测量方向从下往上。这也就提供了一个重要的优点，尤其对于测量各种不同几何外形的小工件，例如手表、端子、小螺丝、螺丝帽及一些电气产品中的小五金零件等等。操作员只需要将样品的测量面朝下，不需要再高校测量距离，只对准测量位置，便可立即测量 。这就加快了测量的过程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的测量误差，还可以避免因在高校测量距离错误时影响计算厚度。FISCHE是一家实现了这种设计的X-射线荧光镀层厚度测试仪器的制造厂商。 再可选配手动的测量台，可移动的范围是50*50mm，不需要打开测量门便可以移动不同位置测量，更方便操作。
　　与WinFTM® V.6 软件及校样标准块Gold Assay配合，XUL® 作为FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分，可以地适应于快速，非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。

三、技术参数 
　1.Fischerscope X-RAY XUL-XYm是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法；

  2.原始射线从下至上； 
　3.X-射线管高压设定可调节至的应用：50kV，40kV或30kV； 
　4.视准器组：圆直径为0.3；在附加费用的基础上可选择0.05X0.3mm长方形视准器 
　5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）510 mm×455 mm×580 mm，重量大约为45kg； 
　6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）240 mm×360 mm×380mm）带向上回转箱门； 
　7.手动X-Y工作台（平面板：360 mm宽×240 mm深），带50 mm的X方向和50 mm的Y方向运行. 
　8.试件查看用标准的彩色摄像机； 
　9.测量开始/结束按钮，及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。 

四、技术参数表：