FISCHERSCOPE® X-Ray XAN 120 X射线荧光光谱镀层测厚仪

一、 仪器介绍：

新款FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® 120是一台款现代化桌上X射线光谱仪（EDXRF）。它可以快速及无损地进行珠宝首饰及贵金属的分析，例如：黄金、白金、铂和银器珠宝等的成份；在贵金属上镀钯及镀铑、硬币以及所有的首饰合金和镀层的厚度等等。

XAN 120是采用了DIN ISO 3497 和 ASTM B 568的技术条件来製造，不但可以快速、安全及地进行测量，而且坚固耐用。配备高解像度的硅半导体接收器及高速信号处理器，高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从17号元素氯﹝Cl﹞到92号元素铀﹝U﹞的所有元素都能测定。

无论您想测量未知样品还是测定未知材料，XAN® 120 配合Fischer公司开发的WinFTM操作软体是你们一个十分合适的选择，采用新改进的基本参数法，无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且的获得测量结果。

为了更容易对准样品位置来进行测量，X射线源和高分辨硅-PIN-接收器置于了 XAN® 120 的底部，而X射线向上发射的。集成了含十字线、射线位置指示标志、光亮及位置调节的视频显微系统，将使得样品的放置和测量定位变得快捷而容易。现在您只需要将样品对准位置，不再需要调节测量台或是样品台，只需放下样品即可开始测量。

的稳定及的度﹝测量黄金可底至1‰）是XAN 120的优势所在。而且，由于不需要经常进行再校准，从而节省了使用者的时间、精力及经营成本。测量结果可以以Karat、 ‰ 或重量 %显示，并且可以按客户可自行设定打印报表的格式打印输出。

的人体学设计，简单的操作即测量结果的快速计算是对XAN® 120的描述。使用安全而简单——操作员只需要很小的培训便能胜任，XAN 120是不需要特别的操作环境。如你们需要一部特出、及的测量工具——XAN 120是一个十分合适的选择。

的Fischer WinFTM® 软件有着无与伦比的性能：完整、简单易用而且不需要补充模块或是软件升级，软件在不需要附加模组 及升级下已经十分简易地可以进行测量。

软件包括 ：

· X射线部件的操作；

· 控制整个测量过程； 

· 採用的基本参数法计算，可以在没有标准片校正下进行测量

· 用受认证的标准片进行校准，可以完成有标准片调校的测量； 

· 可以同时分析材料成分和测量镀层厚度； 

· 在光谱图中自动搜寻元素，按照元素波峰进行自动元素识别；

· 测量值可以以karat, wt% 或 ‰单位显示；

· 客户自定义报表工具，客户可自行设定报告格式打印。

二、技术规格