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ED400涡流测厚仪
ED400涡流测厚仪是ED300涡流测厚仪的改进型，仪器性能大幅度提高。
仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝材料、铝工件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，以及其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。
仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查，可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。
仪器符合国家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。
仪器特点
ED400涡流测厚仪与ED300型相比，具有如下特点：
＊量程宽 ED400量程达到0～500μm。
＊精度高 ED400型的测量精度达到2%。
＊分辨率高 ED400型的分辨率达到0.1μm。
＊校正简便 只校正“0”和“50μm”两点，即可在全量程范围内设计精度。
＊基体导电率影响小 基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量误差不大于1～2μm。
＊性提高 采用高集成度、高稳定性电子器件，电路结构优化，仪器性提高。
＊稳定性提高 采用的温度补偿技术，测量值随环境温度的变化很小。仪器校正一次可在生产现场使用。
＊探头线寿命长 采用德国进口的，在德国测厚仪上使用的探头线，探头线寿命可大大延长。
＊探头芯寿命长 采用高强度磁芯材料，微调了探头设计，探头芯寿命可大大延长。
＊探头可互换 外接式探头，探头损坏后，使用者可自行更换备用探头。仪器无需返厂维修。
ED400涡流测厚仪技术参数
测量范围： 0～500μm
测量精度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分辨率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可选）
使用温度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g
仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝材料、铝工件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，以及其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。
仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查，可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。
仪器符合国家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。
仪器特点
ED400涡流测厚仪与ED300型相比，具有如下特点：
＊量程宽 ED400量程达到0～500μm。
＊精度高 ED400型的测量精度达到2%。
＊分辨率高 ED400型的分辨率达到0.1μm。
＊校正简便 只校正“0”和“50μm”两点，即可在全量程范围内设计精度。
＊基体导电率影响小 基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量误差不大于1～2μm。
＊性提高 采用高集成度、高稳定性电子器件，电路结构优化，仪器性提高。
＊稳定性提高 采用的温度补偿技术，测量值随环境温度的变化很小。仪器校正一次可在生产现场使用。
＊探头线寿命长 采用德国进口的，在德国测厚仪上使用的探头线，探头线寿命可大大延长。
＊探头芯寿命长 采用高强度磁芯材料，微调了探头设计，探头芯寿命可大大延长。
＊探头可互换 外接式探头，探头损坏后，使用者可自行更换备用探头。仪器无需返厂维修。
ED400涡流测厚仪技术参数
测量范围： 0～500μm
测量精度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分辨率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可选）
使用温度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g
ED400涡流测厚仪配置与选配
| 标准配置 主机 1台 探头 1支 基体 1块（6063合金） 校正箔片 1片（约50μm，附检测报告） 使用说明书 1份 合格证 1份 保修单 1份 手提式仪器箱1个 | 可选附件 备用探头 基体 校正箔片（约50μm，附检测报告） |
