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离心浇铸制样X射线荧光光谱分析铬铁中的Cr
点击次数：1712 发布时间：2007/1/30 15:51:59
本文介绍采用离心浇铸制样X荧光光谱分析铬铁中Cr、Si、P，离心浇铸制样能克服铁合金存在的矿物效应和颗粒效应，该方法简单、快速、精度高、准确。当浓度为Cr：66.04%、Si：0.64%、P：0.016%其相对标准偏差分别为0.18%、3.12%、6.25%。
原创作者：长春迈维仪器设备有限公司
