IEC TC111 WG3工作组第14次会议在萍乡召开

2012年5月7日至8日,IEC TC111/WG3第14次小组会议于在江西萍乡隆重召开。此次会议由江西纳优科技有限公司承办，并得到了江西省萍乡市政府的大力支持。

7日上午10点，会议召集人Joachim Zietlow先生与Scott MacLeod先生作了开幕发言。10点15分，Zietlow先生就会议议程与在座专家进行了确认，然后就2011年10月于墨尔本举行的上次会议期间的几个问题进行了确认。随后，Macleod先生介绍了第4次实验室比对（IIS4）目前的时间表和计划。Macleod先生就会议的预期成果作了介绍。

11点，Macleod先生总结了CDV稿的投票情况和各国家委员会（NC）和中央办公室（CO）的意见。随后，CDV稿第6部分、第7-1部分的准备情况分别由Macleod先生和来自IBM的Sophia Lau博士进行介绍。下午2点，美国NC的Roland Chin作了关于“IEC 62321中选定的新内容”的进展报告。下午3点半，举行了ACEA（Advisory Committee on Environmental Aspects）的专题活动。下午3点45分开始，韩国NC和日本NC分别作了题为“Cr⁶⁺与锑的干扰”与“裂解-GC/MS分析”的专题报告。随后，天的会议结束。

第二天早晨，Scott Macleod先对前一天的会议内容和成果进行了回顾。在此之后，与会专家在Zietlow先生的主持下进行了小组分组。小组讨论从上午10点开始，一直进行到中午12点。

我们参加了由来自美国Thermofisher公司的Stanislaw Piorek先生主持的讨论小组，讨论对《IEC 62321 第3-1部分：利用X射线荧光光谱仪对电子电器产品中铅、汞、镉、总铬和总溴进行筛选》这一部分专家所提出的意见。在讨论中，我们提出了三点技术性意见：

1. 样品上所被原级X射线照射的区域通常总是大于光阑的面积。我们提请在第7.1条款中加入一个备注说明此种情况。

2. 对于合金分析，基本参数法可以不使用标样对样品进行分析。我们提请在8.6条款中加入一个备注说明此种情况。

3. 对于相似基体的样品，如果在同一台仪器上进行分析，其分析结果的准确度与精密度都会趋于稳定，因此可采用一个控制样品来估算分析结果的系统误差，同时，保险系数（Safety Factor）可从30%减少至10%。我们提请在附录A.3正文中加入此点意见。

对于这三点意见，与会专家进行了认真的讨论，基本认同我们所提出意见中的观点，但同时也有两点意见：

1. 由于我们提交意见的时间稍晚，而此次会议之后将产生FDIS稿，依据这些意见对第3-1部分进行更改可能不符合IEC的相关规定。为此。讨论小组的组长Piorek先生就此专门询问了会议的召集人Zietlow先生，*后得到否定的回答。

2. 为了增加我们提出的这三点意见，标准的正文部分篇幅将会有比较明显的增长。

因此，由于以上两个原因，我们所提出的意见未能*终进入标准。但是，Piorek先生赞扬了我们就此所做的工作，称：“这些意见如果能够再早些提出，将可以依此进行许多创新性的工作。”同时他希望我们能够在今后会议中能够继续发挥作用。

8日下午14时，来自英国“ERA技术公司的Chris Robertson先生就欧盟委员会RoHS II符合性测试的指导文件的相关进展进行了报告。之后，会议召集人就今后的工作计划进行了说明和安排。

    此次会议的圆满召开,不仅预示着世界对于电子电气产品污染控制工作所取得的阶段性成果,也昭示着中国企业应积极参加IEC工作组的研究工作，而纳优科技正致力于这方面的研究，将我们在技术领域中的优势和需求不断地体现到标准中,为ROHS检测技术的新进展及绿色环保体系的研究做出应有的贡献，