CMI165产品特色：

－－ 可测试高温的PCB铜箔

－－ 显示单位可为mils，μm或oz

－－ 可用于铜箔的来料检验

－－ 可用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试

－－ 可用于电镀铜后的面铜厚度测试

－－ 配有SRP-T1，带有温度补偿功能的面铜测试头

－－ 可用于蚀刻后线路上的面铜厚度测试

CMI165产品规格：

－－利用微电阻原理通过四针式探头进行铜厚测量，符合EN 14571测试标准

－－厚度测量范围：化学铜：0.25 - 12.7 μm（0.01 - 0.5 mils）
                            电镀铜：2.0 - 254 μm（0.1 - 10 mils）

－－仪器再现性:  0.08 μm at 20 μm （0.003 mils at 0.79 mils）

－－强大的数据统计分析功能，包括数据记录平均数、标准差和上下限提醒功能。

－－数据显示单位可选择mils、μm或oz

－－仪器的操作界面有英文和简体中文两种语言供选择

－－仪器无需特殊规格标准片，可实现蚀刻后的线型铜箔的厚度测量，可测线宽范围低至0.2 mm

－－仪器可以储存9690条检测结果（测试日期时间可自行设定）

－－测试数据通过USB2.0实现高速传输，也可保存为Excel格式文件

－－仪器为工厂预校准

－－客户可根据不同应用灵活设置仪器

－－用户可选择固定或连续测量模式

－－仪器使用普通AA电池供电