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Talysurf CCI 6000白光干涉仪
随着科技潮流,非接触式的量测至今已被广泛的应用在生产及研发上,而Taylor Hobson经多年的研发于2003年初推出的Talysurf CCI 6000白光干涉仪可堪称目前世界上精度功能*强的白光干涉仪,,其超高解析度的特性(0.1Å),可以运用在量测晶圆 ,微机电及抛光元件等产品的粗糙度 平面度 及膜厚分析等,而非破坏性的特性更可以有效的量测软性物质,在迈入奈米纪元同时相信Talysurf CCI 6000绝对是各大企业不可少的量测系统。
Talysurf CCI 6000白光干涉仪:
&解析度(Z轴) 0.01nm (0.1Å)
&测量范围(Z轴) 100um
&测量范围(X x Y) 0.36mm x 0.36mm ~ 7.2mm x 7.2mm(依物镜倍率不同可自由选择)
&1024 x 1024 高解析量测点数
&受测物的反射率 0.3% - 100% (透明物亦可量测)
硬件及软件
&气浮式防震系统已隔绝楼板震动‧隔离罩以隔离外在环境避免影响量测精度
&相容于Windows 2000及 Windows XP 系统
CCI干涉仪 Mirau 干涉
白光干涉仪3D分析软件
&Talymap 3D & 2D 分析软体。
&可分析项目: 粗度 平面度 波纹 膜厚 体积计算 承压比值 等等。
&微机电尺寸计算(距离 高度 等计算)‧表面频谱分析(FFT)
MEMS Sensor
Optics Diamond Turned& Wafer Step
Talysurf CCI 6000白光干涉仪应用:
&MEMS 微小尺寸计算
&Silicon Wafer 表面粗度 平面度
&非球面镜表面粗糙度
&硬碟 光碟表面组织形状
&OLED PDP LCD 膜厚分析计算