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日本日立高科X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110，专注金属厚度测量

点击次数：621发布时间：2013/6/25 14:03:37

更新日期：2016/5/23 14:28:06

所在地：日本

产品型号：

简单介绍：概述：即放即测；10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量；可无标样测量；通过样品整体图像更方便选择测量位置！

优质供应

详细内容

概述：

即放即测；10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量；

可无标样测量；通过样品整体图像更方便选择测量位置！

主要特点：

1.通过自动定位功能提高操作性测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大

提高样品定位的操作性。
2.微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅

度提高膜厚测量的精度。
3.多达5层的多镀层测量使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。
4.广域观察系统（选配）可从250×200mm的样品整体图像指定测量位置。
5.对应大型印刷线路板（选配）可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。
6.低价位与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

产品规格：