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和伍水浸超声扫描显微镜半导体缺陷检测仪
价格：￥电议
品牌名称：$brandModel.Title(进口品牌)型号：S600 原产地：中国大陆 发布时间：2023/4/19 15:24:19更新时间：2024/10/24 16:24:54
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详细内容
超声扫描显微镜（SAT）是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用高频超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能，可有效满足新能源、半导体、电力电子、热管理材料、金刚石复合材料、碳纤维复合材料等行业需求。
1、具备A（点扫描）、B（纵向扫描）、C（横向扫描）、透射扫描（需配置透射扫描单元及接收探头选项）、多层扫描、Tray-托盘扫描，厚度测量等系列扫描模式。
2、具备定量测分析功能，以图像方式直观显示被测件内部缺陷的位置、形状和大小，并进行缺陷的尺寸和面积统计，自动计算缺陷占所测量面积的百分比；具备缺陷尺寸标识；厚度与测距等功能。
3、具备图像着色功能，可根据相位翻转自动着色；可根据灰度等级手动着色；可根据厚度变化，自动着色；
4、适用于单个器件的快速扫描分析，也可批量放置样品同步进行缺陷识别，快速筛选出不合格品。
5、可兼容1~110MHz的超声探头。
6、检测软件自主研发，中英文界面，可根据客户需求对功能进行持续升级。
产品参数：
| 序号 | 机电特性 | 规格型号 |
| 1 | 整机尺寸 | 1000mm×900mm×1400mm |
| 2 | 水槽尺寸 | 620mm×650mm×150mm |
| 3 | 有效扫描范围 | 350mm×300mm×100mm |
| 4 | 扫描速度 | 600mm/s |
| 5 | 超声探头 | 可兼容1~110MHz的超声探头。 |
| 6 | 定位精度 | X/Y≤±0.5μm，Z≤±5μm |
| 7 | 重复定位精度 | X/Y≤±0.01mm，Z≤±0.02mm |
产品主要配置表：
| 序号 | 名称 | 规格 |
| 1 | 扫描系统 | X轴：直线电机驱动；Y轴：伺服电机驱动；Z轴：步进电机驱动 |
| 2 | 水槽 | 620mm x 650mm x 150 mm |
| 3 | 超声发射、接收器 | 带宽1-65MHz |
| 4 | 高速数据采集卡 | 采样频率 500MHz |
| 5 | 工控机 | i5处理器、内存8GB、硬盘1T、Win10 64位操作系统。 |
| 6 | 显示器 | 两个27"液晶显示器 |
| 7 | 检测软件 | 和伍超声无损检测软件 |
行业应用：
锂电池、塑封IC、光电器件、微波功率器件、MEMS器件、倒装芯片、堆叠Stacked Die、MCM多芯片模块、金刚石复合片、电器焊接件、陶瓷材料等。
