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断热型比热测定装置SH系列
比热容量，潜热，变态点的测定
本装置是根据长崎减三，高木丰两位博士在1945年研究的测定方法而开发的设备。用独自研发的断热控制方式精确地测出热容量，潜热，变态点等。
●用途
对于各种材料的比热测定。
对于高分子材料的玻璃转移的测定。
对于固体反应，来自固体的液体反应速度的分析。
●特长
由于采用了断热控制，在基本平衡状态下进行测定。
基于比热容量测定原理，由内部微型加热器施加焦尔热，精确地测出试样温度的上升。
●技术指标
温度范围 | 1.50～800℃ 2.室温-150～100℃ |
试样尺寸 | φ20/18mm×20mm长 |
测定温度间隔 | 1，2，5，10℃ |
测定制度 | ±3％以内（一部±5％の温度区間あり） |
测定气氛 | 不活性气体，（300℃大气中） |
