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晶体测试仪
点击次数：145发布时间：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：深圳
产品型号：XT-150D 晶体测试仪
优质供应
详细内容
主要测试项目：
1． 晶体的串联谐振频率FS。
2． 晶体的负载谐振频率FL。
3． 晶体的串联谐振电阻RR。
4． 晶体的负载谐振电阻RL。
5． 晶体的静电容C0。
6． 晶体的负载电容CL。
7． 晶体的频差ppm或KHz。
技术指标：
1． 晶体频率测量范围：3―――６０ＭＨｚ。
2． 等效电阻测量范围：０―――２００Ω。
3． 静电容测量范围： ０―――２０ＰＦ。
4． 负载电容的调整范围：１０―――４０ＰＦ。
5． 激励电平的调整范围：１０―――５００ｕＷ。
6． 晶体等效电阻的测量误差：≤５％。
7． 激励电平误差： ≤５０％。
8． 工作温度范围： ＋１５―――＋３５℃。
9． 时基稳定度（10MHz）： 5×10-7
10． 电源电压： ２２０Ｖac ＋／－１０％。
11． 功耗： ≤１５W。
