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表晶测试仪
点击次数：163发布时间：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：深圳
产品型号：XT-1 32.768KHZ 表晶测试仪
优质供应
详细内容
XT-1 32.768KHZ 表晶测试仪
1. 测量32.768KHZ表晶.
2. 直读频率误差的PPM值,
可测频差范围0~500PPM
3. 内置负载电容12.5PF
4. 可测晶体等效电阻范围:~45KΩ
5. 可设频差范围合格提示音
6. 体积小,重量轻,精度高,
使用简单,携带方便.
