产品展示
芯片推拉力测试仪
点击次数：666发布时间：2012/10/19 9:37:21
更新日期：2024/9/4 17:40:37
所 在 地：中国大陆
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详细内容
应用包括：wire pull, ball shear, tweezer pul,cold bump pull 和更专业的stud pull 等等。推拉力测试系统适用于半导体各种封装形式测试金铝线黏合力；及COB封装、光电,LED,SMT组装 , 原件与基板黏合测试；
MFM推拉力测试机特点：
1、重量：65公斤
2、外观：宽620毫米×长520毫米×高700毫米
3、工作台X方向和Y方向行程60毫米；解析度0.25微米;运动时速度2.5毫米/秒;；可承受力200公斤；Z方向行程70毫米；
解析度1微米；运动时速度10毫米/秒；可承受力100公斤
4、测量范围：100克/5000克/10公斤/100公斤
5、测量精度：0.1%
6、测量标准：国家鉴定 标准
1、重量：65公斤
2、外观：宽620毫米×长520毫米×高700毫米
3、工作台X方向和Y方向行程60毫米；解析度0.25微米;运动时速度2.5毫米/秒;；可承受力200公斤；Z方向行程70毫米；
解析度1微米；运动时速度10毫米/秒；可承受力100公斤
4、测量范围：100克/5000克/10公斤/100公斤
5、测量精度：0.1%
6、测量标准：国家鉴定 标准
MFM推拉力测试机功能：
1、可实现多功能推拉力测试；
2、任意组合可实现多种功能测试；
3、满足单一测试模组；
4、创新的机械设计模式；
5、强大的数据处理功能；
6、简易的操作模式，方便、有效。
1、可实现多功能推拉力测试；
2、任意组合可实现多种功能测试；
3、满足单一测试模组；
4、创新的机械设计模式；
5、强大的数据处理功能；
6、简易的操作模式，方便、有效。
MFM推拉力试验机应用：
1、可进行各种推拉力测试:
金球、锡球、芯片、导线、焊接点等
2、测试负载力达500kg
3、独立模组可自由添加任意测试模组:
4、强大分析软件进行统计、破断分析、QC报表等功能
5、 X 和 Z 轴可同时移动使拉力角度保持一致
6、 程式化自动测试功能
1、可进行各种推拉力测试:
金球、锡球、芯片、导线、焊接点等
2、测试负载力达500kg
3、独立模组可自由添加任意测试模组:
4、强大分析软件进行统计、破断分析、QC报表等功能
5、 X 和 Z 轴可同时移动使拉力角度保持一致
6、 程式化自动测试功能
拉力测试
·金/铝线拉力测试
·非破坏性拉力测试（无损拉克）
·铝带拉力测试
·非垂直（任何角度）拉力测试
·夹金/铝线拉力测试
·夹元件拉力测试
·薄膜/镀膜/芯片/组件 垂直拉力测试
·引脚疲劳拉力测试
·金/铝线拉力测试
·非破坏性拉力测试（无损拉克）
·铝带拉力测试
·非垂直（任何角度）拉力测试
·夹金/铝线拉力测试
·夹元件拉力测试
·薄膜/镀膜/芯片/组件 垂直拉力测试
·引脚疲劳拉力测试
下压测试（Z轴垂直推力）
·下压测试（Z轴垂直推力）
·非破坏性测试
·弯曲及压断测试
·引脚疲劳下压测试
·下压测试（Z轴垂直推力）
·非破坏性测试
·弯曲及压断测试
·引脚疲劳下压测试
推力测试
·推金/铝线测试
·非破坏性推力测试（无损拉克）
·锡/金球推力测试
·锡球整列推力测试
·锡球矩阵推力测试
·芯片推力测试
·铝带推力测试
·推金/铝线测试
·非破坏性推力测试（无损拉克）
·锡/金球推力测试
·锡球整列推力测试
·锡球矩阵推力测试
·芯片推力测试
·铝带推力测试
剥离测试
·铝带剥离测试
·非破坏性拉力测试（无损拉克）
·铝带剥离测试
·非破坏性拉力测试（无损拉克）
滚动式测试
·晶圆耐压测试
·陶瓷耐压测试
·晶圆耐压测试
·陶瓷耐压测试
距离测量
·弧高量测
·3D高度映射
·任意距离测量
·探针式测高
·3轴距离测量
·弧高量测
·3D高度映射
·任意距离测量
·探针式测高
·3轴距离测量
测试方法：
1．金线、铝线键合拉力测试。
2．金线、铝线焊点剪切力测试。
3．晶元焊接（固晶）剪切力测试。
4．PCB 贴装电阻、电容元件剪切力测试。
5．BGA植球剪切力测试。
6．BGA植球群推试验。
7．BGA贴装推力测试。
8．QFP引脚焊点剪切力测试。
热烈祝贺MFM推拉力测试仪（焊接强度测试仪）成功中标潍坊国家半导体照明产品检测中心和常州半导体照明应用技术研究院暨半导体照明联合创新国家重点实验室
提供24小时的服务方案及客户样品的定制方案。提供其他品牌耗材推拉力钩，剪切力等模块。
芯片推拉力测试仪 网站地址: www.-china.com
