低真空模式背散电子图像(BSI)，无镀金直接观察含水份样品。

JCM-6000PLUS标配低真空模式，在低真空状态下，样品仓中少量的气体可以中和样品表面的电荷，降低样品放电撞，直接观察未镀金的不导电样品。低真空模式也能有效观察部分含水气或油气样品。

➥   A>触控式操作区域

➥   B>自动对焦丶亮度丶对比

➥   C>手动微调设定

➥   D>寻找影像

➥   E>*小放大倍率

➥   F>预设放大倍率

编辑寻找影像如此简单

操作者可用影像寻找视窗寻找与列印图像。也可以储存任何影像拍照时的设定条件(包括加速电压丶加速电流丶束流大小等等)。

双视窗观察模式丶方便不同影像直接进行比对

JCM-6000PLUS可同时显示即时影像与回看影像。如上图视窗，右边是低放大倍率的储存影像，左边是高放大倍率的即时影像。操作人员可以直观的比较及时影像与储存影像之差异。

JCM-6000PLUS内建点对点量测功能

JCM-6000PLUS NeoScope内建量测功能，可量测两点之间的距离丶图像倾斜角度。量测结果可直接显示在图像上，也能够储存成CSV档案。

EDS支援点丶线扫丶面(MAPPING)成份分析，功能强大操作简单。

按下分析键即可打开EDS视窗。EDS支援定性/定量分析，从单点元素分析丶线元素分析丶面元素分析(元素分布图)。JCM-6000Plus可搭载JEOL独有的固态半导体EDS，能在影观察的任一时刻提供即时元素分析。選擇分析點影像位置，按下分EDS析鍵，兩個動作即可進行EDS成份分析、元素定性/定量分析。

多点成份分析

当您在图像上选择多个点的成份分析，系统会依序自动分析选取点的元素成分，显示分析图谱。您可在完成分析後比较分析图谱。

分析助理程序，引导您一步一步完成MAPPING分析。

分析助理程序可以引导操作人员依序完成分析，包括线成份分析丶面成分份析(成分图)。当您在分析助理程序中选择一种分析模式，系统会显示所需要的分析步骤，视窗中显示的分析按进，会逐步引导操作人员完成分析。

马达驱动样品台与旋转丶倾斜样品台(选购件)

马达驱动旋转与倾斜样品台让操作人员从不同角度观测样品。倾斜样品台能提供更多观察角度，更好地观察样品三维状况。