Alpha-Step IQ 是一种的探针接触式表面轮廓仪，集高测量精度、多功能性和经济性于一体，是试行生产线及材料分析的理想选择。在其8 Å（1δ）或0.1%的台阶高度重复性以及亚埃级别的分辨率的下，Alpha-Step IQ能够为工艺过程的分析和监控提供的重复性和性能。该仪器提供了一整套完备的二维表面形貌分析方法，适用于各种表面，包括：半导体硅片、MEMS、微电子陶瓷、SIMS、光学表面和平面显示。Alpha-Step IQ 另外还提供了丰富的选件，如：更高的垂直测量范围、用于样品定位的更大倍率的摄象头机、集成的数据处理软件和支持多语言显示等等，以满足用户各种不同的需求。计算机化的系统更提供了联网和USB通讯的强大功能。Alpha-Step IQ 能帮助您更及时地了解工艺状况以及提高产量。