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P-16型表面轮廓仪可以为多种不同表面提供的两维和三维形貌分析特性，包括半导体硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、精加工表面、光电子、薄膜/化学涂层、生物医学器件和平板显示。仪器运行于Windows® XP操作平台，使用金刚石探针接触测量的方法来实现高精度表面形貌分析应用。拥有简洁直观的操作界面，P-16能够精确地量测出台阶高度、表面粗糙度、细微波纹度及其他的基片形貌参数。三种不同的测量头配置可以满足各种表面形貌分析的需求，同时具有顶视和侧视镜头使得样品的定位更趋于简单。
P-16型表面轮廓仪可以为多种不同表面提供的两维和三维形貌分析特性，包括半导体硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、精加工表面、光电子、薄膜/化学涂层、生物医学器件和平板显示。仪器运行于Windows® XP操作平台，使用金刚石探针接触测量的方法来实现高精度表面形貌分析应用。拥有简洁直观的操作界面，P-16能够精确地量测出台阶高度、表面粗糙度、细微波纹度及其他的基片形貌参数。三种不同的测量头配置可以满足各种表面形貌分析的需求，同时具有顶视和侧视镜头使得样品的定位更趋于简单。
联系人：沈先生
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