我公司开发的生产的UM-2超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-2分辨力0.01，超声波测厚仪具有*小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或*小厚度值；数据存储；报警功能

UM-2技术数据

工作原理

脉冲～回波方式

测量范围

0.8～300mm（标准模式）

取决于所用探头、所测材料、表面状况

单位和显示分辨率

毫米-0.01，0.1

英寸-0.001，0.01

探头零点校准

一点校准（用于常规的厚度测量）

两点校准（测量曲面壁厚或特殊应用时，可显著提高测量精度）

V路径修正

自动V声程修正，补偿双晶探头的非线性度

示值误差

±0.05mm （25mm以下）

±0.2% H （100mm以下）

±0.5% H （100mm以上）

注：H为被测物厚度

重复性

±0.05mm

显示屏

128×64点阵液晶屏（42×57毫米）

具有EL背光，可调节对比度