PG15—J激光平面干涉仪PG15-J型激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于精密测量光学平面度。激光平面干涉仪配有激光光源（波长为6328A）。对于干涉条纹可目视、测量读数、照相留存记录。工作时对防震要求一般。该仪器可应用于光学车间、实验室、计量室。如需配购相关的必要附件，可精密测量光学平板的微小楔角、光学材料折射率n的均匀性，光学镀膜面或金属块规表面的平面度，90o棱角的直角误差及角锥棱镜单角和综合误差。


 

供应 美国雷泰 红外测温   美国雷泰 3ILRSC/L2，红外   3ILRSC/L2   美国雷泰    CM8825F，涂层测厚仪/CM-   CM8825F   CM-8825F   涂层测厚仪/CM-   美国雷泰红外测温仪   CM8825N涂层测厚仪/CM-   CM8825N   CM-8825N   涂层测厚仪/CM-   测温仪，ST20/红外线测温   ST20   ST-20  测温仪红外线测温   供应 红外线测温仪   测温仪，红外线测温仪   供应 红外线测温仪，ST80   ST80   ST-80   红外线测温仪   激光测距仪， PREXISO X2    PREXISO X2   激光测距仪   CM8825FN，涂层测厚仪/CM-   CM8825FN   CM-8825FN   涂层测厚仪/CM-   徕卡电子水准仪，SPRINTER   SPRINTER   徕卡电子水准仪   激光测距仪，A6/测距仪   测距仪，A8，激光测距仪   供应 测距仪 D5，瑞士徕卡   全站仪，TPS402   TPS402   TPS-402   全站仪   供应 TPS403，全站仪   TPS-403   供应 全站仪，TPS405 价格   TPS405  TPS-405  全站仪   CM8826F，铁基涂层测厚  CM8826F   CM-8826F-   铁基涂层测厚   全站仪，TPS406   TPS406   TPS-406   CM8826N，铁基涂层测厚    CM8826N   CM-8826N   铁基涂层测厚   全站仪，TPS407   TPS407   TPS-407   全站仪   CM8826FN，铁基涂层测厚