SE3500K表面粗糙度仪

ハイレベルな表面粗さ測定機に、三次元表面粗さ測定機能を付加したもので、対象表面を「線と面」で深く評価できます。
二次元粗さ
多様なパラメータに対応
縦軸と横軸の自動校正ができます。
自動で測定から印刷まで実行
三次元粗さ
データ採取と解析を並列処理できます。
三次元粗さ形状を鳥瞰図や濃淡図で記録できます。
1億ポイントのサンプリングで、高分解能で測定
二次元粗さ
測定規格 JIS（2001/94/82）、DIN、ISO、ASME
測定範囲 Z：600μm  X：100mm
測定倍率 縦：50～500,000  横：1～5,000
記録 自由レイアウトで記録できます。

三次元粗さ
測定範囲 Z：600μm  X：100mm  Y：50mm
サンプリング*小間隔 X,Yとも1μm
記録 カラー記録（鳥瞰図、微分濃淡図等）、粒子解析、三次元粗さパラメータ解析多数

XTZ-02 变倍体视显微镜   XTZ-02    XTZ02   变倍体视显微镜   XTZ-01 变倍体视显微镜   XTZ-01  XTZ01   变倍体视显微镜   XTZ-EAV 变倍体视显微镜   XTZ-EAV   变倍体视显微镜     XTZ-EAS 变倍体视显微镜    XTZ-EAS   变倍体视显微镜   XTZ-EAC 体视显微镜   XTZ-EAC     体视显微镜    XTZ-EA 体视显微镜   XTZ-EA    体视显微镜   XTZ-DA 体视显微镜   XTZ-DA    体视显微镜   XTZ-EAV 体视显微镜   XTZ-EAV   体视显微镜   XTZ-EAS 体视显微镜   XTZ-EAS    体视显微镜   XTZ-EAC 体视显微镜   XTZ-EAC   体视显微镜   XTZ-EA 体视显微镜   XTZ-EA    体视显微镜   XTZ-DA 体视显微镜   XTZ-DA   体视显微镜   XTZ-EV 体视显微镜   XTZ-EV   体视显微镜    XTZ-ES 体视显微镜   XTZ-ES   体视显微镜  XTZ-E 体视显微镜   XTZ-E    体视显微镜   XTZ-D 体视显微镜   XTZ-D   体视显微镜   XTT 体视显微镜   XTT    体视显微镜   PXS-B2040 滑板式、体视显   PXS-B2040   滑板式、体视显   PXS-B1040 滑板式、体视显   PXS-B1040    滑板式、体视显   PXS-B1030 滑板式、体视显   PXS-B1030    滑板式、体视显    PXS-B1020 滑板式、体视显   PXS-B1020    滑板式、体视显    PXS-A2040 立杆式、体视显   PXS-A2040    立杆式、体视显   PXS-A1040 立杆式、体视显   PXS-A1040    立杆式、体视显    PXS-A1030 立杆式、体视显    PXS-A1030    立杆式、体视显    PXS-A1020 立杆式、体视显   PXS-A1020