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FS® XDL-B测厚仪

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品牌名称:$brandModel.Title(进口品牌)型号: 原产地:中国大陆 发布时间:2013/11/27 15:14:37更新时间:2024/8/26 16:49:13

产品摘要:FISCHERSCOPE® XDL®-B FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。 XDL®-B 的特色是独特的距离修正方法。DCM方法(距离控制测量)自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。对于XDL®-B 带测量距离固定的X-射线头,这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件

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电话:021-69017309,69017280 手机:13601713396 联系人:张先生   Q Q:1837534822



 

FISCHERSCOPE® XDL®-B
 
FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。
 
XDL®-B 的特色是独特的距离修正方法。DCM方法(距离控制测量)自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。对于XDL®-B 带测量距离固定的X-射线头,这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。
 


 
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电话:021-69017309,69017280 手机:13601713396 联系人:张先生   Q Q:1837534822

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