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三坐标测量在光学元件指和单件检验中，光学测量表面缺陷的检验是花费人力。三坐标时间*多和了有可能引起争议的技术指标。另外，2D影像测量与3D影像测量这项技术标准的制定和检验，三次元测量虽然各国可能有其各自的客观标准，但实际三次元测量运作起业并不是行之有效的，二次元测量易于接受和便于度量，但二次元测量是需要很大程度上依靠人的经验标准，三坐标测量由于国内外光学业务交入的频繁，尤其对外光学元件加工数量和厂家的增多，使使我们必须努力搞清楚 这个问题，至少包括新标准理解及新旧标准的对应和大致的转换关系。

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