| Aridus II膜去溶雾化系统 | Aridus II膜去溶雾化系统是为各种ICP-MS专门研制的、专业进样系统附件,具有如下特性: - 提高ICP-MS的灵敏度10倍以上
- 显著降低氧化物和氢化物水平
- 使ICP-MS可以直接分析有机溶剂样品(如甲醇、乙醇等)
- 大大改善信号的稳定性
Aridus II膜去溶雾化系统采用的低流量、Aspire微量雾化器,只需1mL的样品就能分析所有的元素。同时Aridus II进样系统全部采用PFA惰性材料,可应用于含HF酸的样品。独特的废液反抽技术进一步提高了稳定性。 |
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Aridus II的工作原理: 样品经雾化器雾化成气溶胶后进入120℃的雾化室,样品气溶胶保持在蒸汽状态。从雾化室出来的样品气溶胶进入加热的“隔膜去溶”装置,利用“膜渗透”技术,分离样品气溶胶中的溶剂,利用一股反向的氩“穿透气”带走从膜渗透出来的溶剂蒸汽。从而使进入ICP的样品气几乎不存在溶剂部分,大大提高了分析的灵敏度、减少溶剂所带来的氧化物、氢化物干扰和溶剂对ICP的影响。 |
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优点: |
显著减小ICP-MS的干扰: Aridus II膜去溶雾化系统能去除样品溶剂蒸汽,显著地减少诸如来自水中的氧化物、氢化物的干扰,右图比较了标准气动雾化器与Aridus系统的CeO/Ce 比率,该CeO/Ce比率从3% 减少为0.03%。其他水基的干扰ArH +(39)、CO2+(44)、ArO+(56)有明显的减少,从而使Li、Na、Mg、K、Ca、Fe的检出限得到明显改善。 |
配备Aridus II的ICP-MS检出限:(在非冷焰的条件下,ELAN6000型ICP-MS) Element | m/z | Detection Limit (ng/L) | Element | m/z | Detection Limit (ng/L) | Li | 7 | 0.4 | K | 39 | 8 | Na | 23 | 15 | Ca | 44 | 300 | Mg | 24 | 6 | Fe | 56 | 10 | |
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的信号稳定性: |
Aridus II的7小时信号稳定性:RSD<1%(在100%的甲醇溶液中加1mg/L的标准) |
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