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反应离子刻蚀(RIE)及等离子体增强化学气相沉积 (PEVCD)
点击次数:682发布时间:2013/8/15 16:56:23
更新日期:2013/8/15 16:56:23
所 在 地:中国大陆
产品型号:BM8-II
优质供应
详细内容
用于反应离子刻蚀(RIE)及等离子体增强化学气相沉积 (PEVCD)的等离子处理系统。
BM8-II是一款定义反应离子刻蚀(RIE)及等离子体增强化学气相沉积 (PEVCD)等离子处理新概念的等离子处理系统。
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统基于模块化设计制造,采用一款通用的真空处理舱及机柜。等离子处理系统采用平板式电极、反应离子刻蚀(RIE)电极及等离子体增强化学气相沉积 (PEVCD)电极模块化设计理念,方便整体系统的组装及配置。
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统带给用户方便操作,提供多种等离子处理工艺、方便维护及性价比高的反应离子刻蚀(RIE)/沉积等离子处理系统,比业内其它反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统更具竞争力。
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统-主要性能简介
等离子工艺处理的研发需要多功能且可靠的等离子处理系统。为了满足等离子研究日新月异的要求,用户选购的系统设备满足范围的等离子工艺参数需要,工艺验证需要极其高的可重复性,必须方便改造用于新的等离子工艺需要。我们相信BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统系列干法工艺等离子系统满足这些非常苛刻的要求。. BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统是一款用于研究,工艺开发及其小批量生产的等离子系统工具,用于八英寸基片的精确等离子刻蚀及沉积。BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统可以在多片或单片处理模式下操作。
在设计BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统之初,主导指示就是创造一款融合高质量、可靠、重复性及其用于生产系统的工艺控制能力为一体的等离子系统;同时极大的降低主机成本、维护成本及占地面积小等要求。
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统具有独特的机体结构和电极设计,方便安装在层流模块中或是超净间。BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统的建造采用高质量认可的部件、模块化装配、多功能真空舱体及其电极设计、结构紧凑、自动化及业内认可工艺程序使得BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统成为工艺工程师干法等离子处理设备。
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统-主要性能介绍
· 一体式真空舱体构造
· 原位电极间距设计(PEVCD版)
· 可更换工艺气体喷头
· 业内认可的工艺程序
· 高质量业内认可的主要部件
· 终点探测监测(Endpoint detection选配)
· 多种电极配置
· 自动射频(RF)匹配器
· 下游压力控制(Downstream pressure control选配)
· 电脑控制,基于Windows编程
· 多款真空泵浦选配:机械泵、机械泵/风机,涡轮增压泵浦
· 单真空舱及双真空舱结构
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统-应用
基于系统建造的高质量处理模块,BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统满足广泛的等离子处理工艺条件,无论是复杂的亚微米级反应离子刻蚀 (RIE)还是高质等离子体增强化学气相沉积(PEVCD)薄膜的沉积。以下是我们,BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统的典型工艺处理应用,基与众多客户群的紧密协作,我们开发出业内认可的工艺程序,保证系统满足用户所需。用于生产制造的系统设备均采用质量的部件,保证,BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统提供可能的正常运行时间、 可靠性、重复性及耐用性。
· 故障分析应用(Failure analysis)
· 材料改性(Material modification)
· 粘合促进等离子descum
· 表面处理(Surface treatment)
· 各向异性各项同性及刻蚀(Anisotropic and isotropic etching)
· 金属刻蚀(Metal etching)
· Si02(二氧化硅), Si3N4 (氧化硅)及 SiOxNy(氮氧化矽)薄膜沉积
· II-V 刻蚀应用(III-V etching)
· 沟槽刻蚀(Trench etching)
· 钝化层刻蚀(Passivation etching)
· 聚酰亚胺刻蚀(Polyimide etching )
· 亚纳米级刻蚀(Submicron etching)
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统规格
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统的广泛使用得益于其高性价比,多功能设计模块,提供其他同类反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统没有的工艺优势。这些包括层流安装占地面积小,多款电极配置,及其可满足直径8英寸(203毫米)基片处理等。
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统基本模块
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统基本部件包括一款基于Windows的PC控制器及其菜单存储、质量流量控制的两路通道控制(可扩展至六通道)、温度补偿式电容压力计用于测量工艺真空度、100毫米真空通道用于工艺气体电导、KF或ISO标准管件便于维护;及其它工艺及服务特性。工艺气体导管未不锈钢操作,配备VCE连接件。
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统-真空处理舱
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统的真空处理舱采用整块铝合金建造成一体式设计。反应离子刻蚀(RIE)、等离子体增强化学气相沉积(PEVCD)及平板电极系统均采用同样的真空处理舱设计。真空处理舱上部包括一个电极,并且具有原位电极可调间距;真空舱下部包括基片电极,真空泵浦接口及气体必要的真空阀及其真空监控设备。自动升降台抬举真空舱上部便于接近底部电极。
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统-电极配置
反应离子刻蚀(RIE)系列电极特别为达到低真空范围的*佳等离子性能设计。上部的不锈钢电极包括喷头式工艺气体供应系统。不锈钢材质底部电极通过可选配冷却循环槽来控制温度。反应离子刻蚀(RIE)阳极采用暗区屏障设计,使等离子在两块电极之间产生。等离子体增强化学气相沉积((PECVD )电极采用类似的设计,但是铝制底部基片电极可耐400℃高温,而上部电极(通电电极)是采用水冷却。铝制电极具有气体感应端口,便于沉积工艺后的快速冷却。对于(等离子体增强化学气相沉积(PECVD )应用,上部电极的间距可以在25.40至89毫米之间调节。
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统-等离子电源
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统的电源可匹配广泛的功率及其等离子电源频率。所有的电源采用固态、风冷式。电源功率从300至1250瓦特均有,射频频率从40KHz(中频)至2.45GHz(微波);系统标配为13.56MHz,600瓦特射频电源。可选配自动或手动匹配器。
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统-工艺处理真空泵浦
根据用户的工艺需要,BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统配备机械泵、机械泵及涡轮分子泵,或是带鲁氏鼓风机的机械泵。也可根据所需真空处理级别配备不同尺寸大小的真空泵浦。
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统-控制器
控制器采用电脑控制整个系统。基于Windows的控制软件采用多屏幕显示系统设备控制、数据记录、称呼设定及存储,系统连锁应需配备。
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统-选配
为了增强BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统的工艺处理能力,BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统提供广泛的工艺处理选项,包括终点检测、水冷器(用于冷却电极)、油雾分离器及吹扫系统、下周压力控制、硬质阳极氧化真空舱。工艺废气处理系统也可提供。应离子刻蚀(RIE)/等离子体增强化学气相沉积(PEVCD)任意结合的双真空处理舱可以配置。反应离子刻蚀(RIE)/等离子体增强化学气相沉积(PEVCD)组合配置具有明显的多功能性,其优势在于避免不同沉积工艺的交叉污染。
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统尺寸
单真空处理舱 | Dual双真空处理舱 | |
宽: | 91厘米 | 104厘米 |
深: | 81厘米 | 114厘米 |
机柜高度: | 91厘米 | 91厘米 |
整机高度: | 129厘米 | 129厘米 |
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统重量
70~120公斤. (取决于具体系统配置).
BM8-II反应离子刻蚀(RIE)/沉积(PEVCD)等离子处理系统安装条件
等离子系统主机: | |
220VAC/1/50Hz, 7A | |
真空泵浦系统: | |
220VAC/1/50Hz, 5A | |
电极冷却水源: | 20℃ ±2℃ |
真空阀驱动气源: | 0.88MPa |
氮气: | 0.1~0.14MPa (用于真空处理舱吹扫)) |
气源: | 等离子处理工艺气体, VCR 管件 |
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