UV-B型紫外辐照计254波段

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型号：原产地：中国大陆发布时间：2022/6/21 9:35:20更新时间：2024/11/22 9:21:40

产品摘要：UV-B型紫外辐照计254波段UV-B型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等域的紫外辐照度测量工作。

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UV-B型紫外辐照计254波段

UV-B型双通道紫外辐照计产品概述

紫外辐照计已取得中华人民共和国制造计量器具许可证和计量器具型式批准证书。

紫外辐照计执行企业标准Q/HDSDY0003－2014。
UV-B型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等域的紫外辐照度测量工作。
UV-B型紫外辐照计254波段特点

光谱及角度特性经严格校正
数字液晶显示，带背光
手动/自动量程切换
数字输出接口（USB,冗余供电）
低电量提醒
自动延时关机
有数字保持
轻触按键操作，蜂鸣提示
UV-B型紫外辐照计254波段

项目	参数	备注
波长范围λ1，峰值波长λp	（230～275）nm，λ_P＝254nm	配备两只探头
波长范围λ2，峰值波长λp	（275～330）nm，λ_P＝297nm	配备两只探头
辐照度测量范围	(0.1～199.9×10³) μW/cm²
紫外带外区杂光	UV254<0.1%，UV297<0.05%
相对示值误差	±8％（相对于NIM标准）
角度响应特性	±5% （α≤10°）
线性误差	±1%
换档误差	±1%
短期不稳定性	±1%（开机30min后）
疲劳特性	衰减量<2%
零值误差	满量程的±1%
响应时间	<1
使用环境	温度(0~40)℃；湿度＜85％RH
尺寸和重量	160mm×78mm×43mm；0.2kg
电源	6F22型9V积层电池（非充电电池）
整机功耗	＜0.1VA