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像差校正平场光谱仪

点击次数:370发布时间:2014/8/5 15:44:48

像差校正平场光谱仪

更新日期:2014/8/5 15:44:48

所 在 地:中国大陆

产品型号:251MX

简单介绍:波长覆盖范围:1nm-20nm;无需扫描机构;焦平面尺寸:25mm;

相关标签:像差校正 平场光谱仪 

优质供应

详细内容

 251MX--像差校正平场光谱仪

主要特点:

>像差校正光栅

>为MCP及CCD等阵列探测器设计

>快速获取光谱

>真空下切换光栅以及对探测器位置进行调节

>超高真空支持

主要技术参数

焦平面吃醋

1nm-20nm

入射角度

87

真空度支持

10-6Torr,109Torr

探测器位置

可调节,可旋转

焦平面尺寸

25mm

光栅位置

2块光栅,可在真空下切换

可选探测器

CCDMCP等阵列探测器

狭缝

10um-3mm可在真空下调节

 

不同光栅主要参数

型号

入射出射角度

刻线密度G/mm

分辨率(nm

焦平面尺寸

光谱范围

能量范围

HEG

172

2400

~0.01

20mm

1-5nm

1240-248eV

LEG

167

1200

~0.028

25mm

5-20nm

248-62eV

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企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【未认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:****
  • 企业类型:代理商
  • 注册资金:人民币万

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