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X射线镀层膜厚测试仪
点击次数:162发布时间:2013/11/12 16:30:11
更新日期:2015/1/14 10:40:21
所 在 地:欧洲
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半导体美国博曼(BOWMAN)X射线荧光膜厚测试仪
膜厚仪为快速且简便测量而设计。这一款经济型的仪器可以准确地和方便地在2个液晶显示器上显示镀层厚度的读数:一块大的位于前部面板,另一块位于上部面板。它独特的符合人类工程学设计的集成于仪器的恒压测量探头允许方便地单手操作,可以进行测量数据统计评估以及在10-20 m(33-66 feet)的距离范围内将测量数据在线或离线的无线传输至计算机的内置无线电发射器
膜厚测试仪被用来测量非导电涂层在非铁金属基材上的厚度以及非铁金属镀层和非导电涂层在铁或钢上的厚度。仪器能自动地识别被测材料并选择适合的测试方法。MP0理想的适合于测量: 非铁金属镀层(例如:铬,铜,锌等)在铁或钢上。 油漆、腊克和合成涂层在铁或钢上。 非导电涂层在非铁金属基材上,例如:油漆、腊克和合成涂层在铝、铜、黄铜、锌和不锈钢上。 铝的阳极氧化层。 深圳金霖以*优的服务.为您提供*佳的解决方案 让客户满意 。 愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图,有需要的朋友请联系
美国博曼(BOWMAN)X射线荧光膜厚测试仪 采用真正的基本参数原理(FP)来测量厚度,准。实用性:无数次的发明,包括使用DCM自动对焦方法和透明的准值器,操作简单。