> 采用上的、稳定性的射线源，体积小，使用寿命长，易维护。 

> 设备结构简洁、操作简单、部件更换快速、简单，便于维护。 

> 快速多点校正法技术保证了系统的长期精度。 

> 快速、连续、非接触测量、实时显示高精度测量值。 

> 操作站：提供中英文操作界面（Win2000）。采用web以太网平台，使用*新的JAVA 技术。 

> 采用双放大技术和独特大电离室，提升测量范围及精度。

我司专业销售膜厚仪，镀层膜厚测试仪，X-RAY膜厚测试仪等中国总代理，半导体博曼膜测量仪主要检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费 产品副名称：应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 分析:详述.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W（50 kv和1 ma）钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层（4层镀层+基材）和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素，博曼膜厚仪特别适合于小的镀层测量，如端子，连接器，细小的金线，在五金，汽车配件．线路板．卫浴，等行业．也有杰出的表现．可测量．单层．双层，合金层等多种镀层。

 

美国博曼X-ray膜厚测试仪是结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计，此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理，符合标准来进行非破坏及不接触的测量。除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量。